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1，L：采(cǎi)用3.9〞彩(cǎi)色透(tòu)液(yè)晶(jīng)屏(píng)，中文菜單(dān)提(tí)示操作，以及ARM和16位(wèi)A/D芯片。 2，操(cāo)作(zuò)方便(biàn)：可現場手持，懸掛(guà)，支(zhī)撐(chēng)，卡(qiǎ)入(rù)多種方式(shì)操(cāo)作，所有(yǒu)能(néng)鍵直(zhí)列麵板(bǎn)，可實現能(néng)鍵(jiàn)切換。 3，安性(xìng)：電壓接綫(xiàn)配(pèi)防(fáng)護(hù)套(tào)，塑(sù)封鱷魚夾(jiā)，無金(jīn)屬(shǔ)裸露，測試安。 4，低(dī)耗：內(nèi)置鋰電(diàn)池(chí)供電或(huò)外直電源供電，整(zhěng)機(jī)耗﹤5VA。
該(gāi)校(xiào)驗(yàn)裝(zhuāng)置為(wéi)表(biǎo)源體式(shì)，其(qí)本身具有定頻(pín)，定(dìng)相(xiāng)源性，因而不需(xū)配置(zhì)何(hé)電壓，電，率電(diàn)能標(biāo)準(zhǔn)，即可對各(gè)類(lèi)示儀表，單相，三(sān)相電能(néng)表以(yǐ)及變(biàn)送器行(háng)手動或自動檢(jiǎn)定(dìng)，並(bìng)可(kě)將檢(jiǎn)定(dìng)結(jié)果(guǒ)打印出來。另外還(huán)配(pèi)有(yǒu)標(biāo)準 RS232 接(jiē)口(kǒu)，可在(zài)計算機上直(zhí)接(jiē)操作校(xiào)驗檢定(dìng)過(guò)程(chéng)。
GSZ-CV-2000型(xíng)電容(róng)電壓(yā)性測(cè)試(shì)儀(yí)是測試頻(pín)率為(wéi)1MHz的(dí)智能化數(shù)字(zì)的電容測試儀器(qì)，用(yòng)於測(cè)試半導(dǎo)體器(qì)件(jiàn)PN結的勢(shì)壘(lěi)電(diàn)容(róng)在不(bù)同(tóng)偏壓下(xià)的電(diàn)容量(liáng)，也可測試其(qí)它電容。
該儀器按(àn)照(zhào)單晶(jīng)矽物(wù)理(lǐ)測試方法(fǎ)家(jiā)標準並(bìng)參考(kǎo)美 A.S.T.M 標準而的，用(yòng)於測試(shì)半(bàn)導體(tǐ)材(cái)料(liào)縱向電(diàn)阻(zǔ)率(shuài)的用(yòng)儀器。 儀器(qì)由(yóu)主(zhǔ)機，測試(shì)台(tái)，二探(tàn)針探(tàn)頭(tóu)，計(jì)算(suàn)機(jī)等分組成，測量數據既(jì)可(kě)由(yóu)主(zhǔ)機直(zhí)接顯示，亦可(kě)由計算機控(kòng)製測(cè)試采(cǎi)集測試數(shù)據到(dào)計算機中加(jiā)以(yǐ)分(fēn)析(xī)，然(rán)後以表格，圖(tú)形方式統計分析顯(xiǎn)示(shì)測(cè)試結果(guǒ)。
方(fāng)型(xíng)四探(tàn)針(zhēn)探(tàn)頭是(shì)種(zhǒng)門測量(liáng)半(bàn)導體薄層電阻(麵電阻)的(dí)方塊電阻測試(shì)儀配(pèi)用(yòng)的方型(xíng)四(sì)探(tàn)針測(cè)試(shì)探頭(tóu)，用於(yú)測量(liáng)小樣品的四探針探(tàn)頭，可(kě)用(yòng)於(yú)般(bān)半(bàn)導(dǎo)體材(cái)料(liào)，導電(diàn)薄(báo)膜(ITO透明(míng)氧化膜(mó))，金(jīn)屬(shǔ)薄膜……等物質的薄(báo)層(céng)電(diàn)阻(zǔ)。
方塊電(diàn)阻(zǔ)測(cè)試(shì)儀(yí)是手(shǒu)持(chí)式(shì)方塊(kuài)電阻測(cè)試儀,門測量半(bàn)導體(tǐ)薄層(céng)電(diàn)阻(麵(miàn)電阻)的新型儀(yí)器可(kě)用於測量(liáng)般(bān)半導體(tǐ)材(cái)料(liào)，導電薄膜(ITO透明氧化膜)……等物質的(dí)薄(báo)層電阻。
當前(qián)位(wèi)置(zhì)：