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當(dāng)前位(wèi)置:首(shǒu)頁 > 技術(shù)文(wén)章 > 四探針(zhēn)電阻率(shuài)測(cè)試儀(yí) 四探針電(diàn)阻(zǔ)率檢測儀 四探針電阻(zǔ)率儀(yí) 型號:KDK-KDY-4
四探針電阻率測試(shì)儀(yí) 四探(tàn)針電(diàn)阻(zǔ)率(shuài)檢(jiǎn)測(cè)儀 四探針(zhēn)電阻(zǔ)率儀 型號(hào):KDK-KDY-4
KDK-KDY-4型(xíng)四探針(zhēn)電(diàn)阻(zǔ)率測試儀(yí)嚴(yán)格按照矽(guī)片電(diàn)阻(zǔ)率(shuài)測量的際(jì)標(biāo)準(ASTM F84)及家(jiā)標(biāo)準(zhǔn)製,並針對(duì)目前(qián)常用(yòng)的四探針電(diàn)阻率測試儀(yí)存在的(dí)問題(tí)加以改。整(zhěng)套儀器有(yǒu)如(rú)下點(diǎn):
1,配有雙數字表:塊(kuài)數(shù)字(zì)表在(zài)測(cè)量(liáng)顯(xiǎn)示矽(guī)片(piàn)電阻率(shuài)的(dí)同時(shí),另(lìng)塊數字(zì)表(biǎo)適(shì)時(shí)監測(cè)過程(chéng)中(zhōng)的(dí)電(diàn)變化,使操作(zuò)更簡便(biàn),測(cè)量更(gēng)。
數字電壓表(biǎo)量(liáng)程:0—199.9mV 靈(líng)敏(mǐn)度:100μV 輸入阻(zǔ)抗:1000ΜΩ
基(jī)本誤(wù)差(chà)±(0.4-0.5%讀(dú)數(shù)+0.1%滿(mǎn)度(dù))
2,可測電阻率範圍:10—3 —1.9×103Ω·cm。
可測方塊電阻範圍:10—2 —1.9×104Ω/□。
3,設有電壓(yā)表自動(dòng)復(fù)零(líng)能(néng),當四探針頭1,4探針間(jiān)未有(yǒu)測量電(diàn)過時(shí),電壓表(biǎo)零(líng),隻有1,4探針接(jiē)觸(chù)到矽片(piàn),測量電渡過單晶(jīng)時,電壓表(biǎo)才示(shì)2,3探(tàn)針(zhēn)間的電(diàn)壓(即電阻率)值,避免空間雜(zá)散電(diàn)波(bō)對測(cè)量的幹擾。
4,經矽(guī)片的(dí)測(cè)量電(diàn)由度穩定(分之五(wǔ)度)的(dí)製恒源提供(gōng),不受氣(qì)候條(tiáo)件的(dí)影響,整機(jī)測量度<3%。
電(diàn)量程分(fēn)五檔(dàng):10μA,100μA,1mA,10mA,100mA。
5,儀器采(cǎi)用(yòng)觸點(diǎn)電阻更低(<5mΩ),使(shǐ)用(yòng)壽(shòu)命更長(cháng)的轉(zhuǎn)換開頭及繼(jì)電(diàn)器(qì)(>10次(cì)),在緣電阻(zǔ),電容量方麵留有更大的安係數(shù),提了(liǎo)測試(shì)儀(yí)的可靠(kào)性(xìng)和(hé)使用壽命。
6,四探(tàn)針頭采(cǎi)用際上的紅寶石軸套導(dǎo)向結構(gòu),使探(tàn)針的遊移率減小,測量重(zhòng)復(fù)性(xìng)提(tí)