
當(dāng)前位置:首頁 > 產品中心 > > 其它(tā)儀器儀(yí)表(biǎo) > SZB-SX1934數(shù)字式四(sì)探針測(cè)試計,數字式(shì)四(sì)探(tàn)針測(cè)試(shì)儀

描述:四(sì)探針測(cè)試(shì)儀(yí)是根據單(dān)晶(jīng)矽(guī)物理測(cè)試(shì)方法家(jiā)標準並參考美(měi)A.S.T.M 標(biāo)準的(dí)半導(dǎo)體材(cái)料電(diàn)阻率及方(fāng)塊(kuài)電阻(薄層電阻)測(cè)試用儀器
廠商性(xìng)質
生產(chǎn)廠家更新時間(jiān)
2024-04-16訪(fǎng)問量
766
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詳(xiáng)細介紹
| 品牌 | 恒(héng)奧(ào)德 |
|---|
數字(zì)式四探針(zhēn)測(cè)試計/數字(zì)式四探針(zhēn)測(cè)試儀(yí) 型(xíng)號(hào):SZB-SX1934
產(chǎn)品(pǐn)點
四探針測試(shì)儀(yí)是(shì)根據單晶矽(guī)物理(lǐ)測試(shì)方法家標準(zhǔn)並參(cān)考美A.S.T.M 標準的(dí)半導體材料電(diàn)阻(zǔ)率及(jí)方(fāng)塊電阻(薄層電阻)測(cè)試用儀器。
儀器以大(dà)規模集成電(diàn)路為(wéi)核心(xīn)件,采用(yòng)旋扭(niǔ)式開關控(kòng)製(zhì),及各(gè)種作狀態(tài)LED示(shì)。應用(yòng)微(wēi)計算機(jī),使得測量(liáng)讀數(shù)更加(jiā)直(zhí)觀,快(kuài)速(sù)。整套儀器體積小,耗(hào)低,測(cè)量度,測試速度快(kuài),穩定性好,易操作(zuò)。
測量範圍(wéi) 電阻率/Range:10-4—105Ω/□(可擴(kuò)展(zhǎn)/extended range) 方塊(kuài)電阻(薄層(céng)電阻(zǔ)) /Sheet resistance:10-3—106Ω/□ 電(diàn)阻(zǔ)/resistance:10-6—105Ω
可測晶片直(zhí)徑(zui大(dà)) φ100mm(標配),方(fāng)形(xíng)230×220mm(zui大)
zui大(dà)電阻(zǔ)測(cè)量誤差(chà)(按(àn)JJG508-87)
0.1Ω,1Ω,10Ω,100Ω≤±0.3%讀(dú)數±2個字
外(wài)形(xíng)尺(chǐ)寸(cùn) 400mm×440mm×120mm
儀器重量 電(diàn)氣(qì)主機:約(yuē)4kg 測(cè)試(shì)台:約5kg
測試環境 溫度:23±2℃ 相對濕度:≤65%; 無頻(pín)幹(gān)擾(rǎo) 無(wú)強(qiáng)光照射
電源(yuán) 220V±10%(50Hz) 耗(hào)≤35W
備(bèi)注 具備電(diàn)腦(nǎo)接口
探(tàn)頭(tóu)
SZB-Sx係列四探(tàn)針(zhēn)探(tàn)頭(tóu)是(shì)采用綜(zōng)合性能優(yōu)異(yì)的(dí)分子材料,耐(nài)磨和硬度的探(tàn)針研(yán)製的測(cè)量數(shù)據(jù)穩(wěn)定,可(kě)靠(kào),準確度,耐用(yòng)性(xìng)能(néng)好四(sì)探(tàn)針探(tàn)頭。所有標符合(hé)家(jiā)標準,同(tóng)時符合(hé)ASTM標準有關規(guī)定。
間(jiān)距(jù):1±0.01mm; 針間緣(yuán)電(diàn)阻≥1000MΩ; 機(jī)械(xiè)遊(yóu)移率(shuài):≤1.0%;
探針(zhēn)壓(yā)力:TZT-9A/9B: 12-16牛頓(總力) TZT-9C/9D 5-8 牛頓(總力(lì))
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