光釋(shì)光法藥品(pǐn)輻(fú)照(zhào)量檢測儀  型號：HAD-LT01

光釋(shì)光法藥(yào)品(pǐn)輻照(zhào)量(liáng)檢測儀(yí) (單工(gōng)位(wèi))采用(yòng)光刺激發光(guāng)（PSL）係(xì)統，又(yòu)稱光釋光係(xì)統，由(yóu)脈衝(chōng)激(jī)發(fā)光源(yuán)（紅(hóng)外激發光源(yuán)），樣品室(shì)，檢(jiǎn)測探頭(tóu)，光(guāng)子計(jì)數(shù)係(xì)統及控製單(dān)元(yuán)組(zǔ)成，應用(yòng)於中藥(yào)飲(yǐn)片(piàn)，含(hán)生藥原粉(fěn)固體製劑(jì)以及(jí)香辛(xīn)料，調(tiáo)味品(pǐn)等的快速篩(shāi)查，可對(duì)經(jīng)過電(diàn)離(lí)輻射（輻照）處(chǔ)理(lǐ)的樣品進行有效(xiào)鑒(jiàn)別。

隨(suí)著(zhuó)輻照方法在藥(yào)品(pǐn)領(lǐng)域的(dí)廣(guǎng)泛(fàn)應用(yòng)，國(guó)家管理(lǐ)機構開(kāi)始關注(zhù)輻照(zhào)處理(lǐ)的使(shǐ)用情況(kuàng)，消(xiāo)費者也開始關心輻(fú)照(zhào)的(dí)安(ān)全(quán)性。光釋光(guāng)檢測(cè)法因其(qí)具有檢(jiǎn)測(cè)周(zhōu)期(qī)短，操作簡便(biàn)，成本低廉等優點，被廣(guǎng)泛應(yīng)用(yòng)於輻照草(cǎo)藥，甲(jiǎ)殼類動物，香料(liào)和調(tiáo)味品的(dí)檢(jiǎn)測(cè)中，本產品就是采用光釋(shì)光(guāng)檢(jiǎn)測法(fǎ)原(yuán)理進行設(shè)計製造

工作原(yuán)理(lǐ)

輻照光(guāng)釋光檢(jiǎn)測法（Photostimulated Lumines-cence, PSL）也稱作(zuò)光激(jī)發光(guāng)檢(jiǎn)測法(fǎ)，激光成像(xiàng)檢(jiǎn)測法，光致光發光(guāng)檢測法和光刺激(jī)發(fā)光檢(jiǎn)測(cè)法(fǎ)。

自然界中絕(jué)大(dà)多(duō)數的(dí)固體是晶(jīng)體(tǐ)，而所(suǒ)有(yǒu)的晶體(tǐ)在空間(jiān)結(jié)構（晶(jīng)格）上都有(yǒu)缺(quē)陷（晶格缺(quē)陷）。輻(fú)照使礦物晶體電離(lí)，產(chǎn)生(shēng)遊離(lí)電子(zǐ)。一(yī)些(xiē)遊(yóu)離(lí)電(diàn)子(zǐ)被較(jiào)高能態(tài)的晶格(gé)缺陷捕(bǔ)獲(huò)後，成(chéng)為陷(xiàn)獲電子(zǐ)儲存在(zài)陷阱(jǐng)中。在常溫和(hé)沒有(yǒu)光(guāng)照的環境(jìng)下(xià)，這些電子(zǐ)可儲存幾(jī)千甚(shèn)至(zhì)幾(jī)萬(wàn)年(nián)的時間。一旦(dàn)礦物(wù)晶體受到長波(bō)光(guāng)激發(fā)時，陷(xiàn)獲(huò)電子(zǐ)就可(kě)獲(huò)得(dé)能量，以可見光的形式釋放出來。光釋(shì)光(guāng)檢測(cè)法(fǎ)正(zhèng)是利用晶(jīng)體這(zhè)一特性(xìng)開(kāi)發出(chū)的輻照檢測方法。

標(biāo)準(zhǔn)

2025版中(zhōng)國藥典征求意見稿，GB 23748-2016 輻照鑒(jiàn)定法(fǎ)光釋光(guāng)法

♢ 《BS EN 13751:2009 》

特(tè)點

智(zhì)能化嵌入(rù)式操(cāo)作係統(tǒng)，人性(xìng)化界麵(miàn)設計，所見(jiàn)即所(suǒ)得；

♢ 計算(suàn)機控(kòng)製，實時顯示；

♢ 采(cǎi)用光(guāng)釋(shì)光（PSL）原(yuán)理，符(fú)合歐(ōu)盟標(biāo)準EN13751，以(yǐ)及(jí)被等效采(cǎi)用的(dí)國(guó)家標準。每(měi)秒光(guāng)子計數(shù)和光(guāng)子(zǐ)釋(shì)放(fàng)

曲綫圖同(tóng)時顯示和記(jì)錄(lù)；

♢ 光子(zǐ)計(jì)數結(jié)合光(guāng)子釋放曲(qū)綫(xiàn)提高(gāo)對疑(yí)似(sì)樣品的識(shí)別率；

♢ 高(gāo)的(dí)靈(líng)敏度可識(shí)別(bié)1kGy以(yǐ)下的低(dī)劑量(liáng)輻(fú)照；

♢ 低(dī)的樣品(pǐn)前處理要求；無需(xū)任(rèn)何(hé)化(huà)學試(shì)劑(jì)；

♢ 單(dān)次樣(yàng)品(pǐn)檢測時(shí)長為(wéi)60秒(miǎo)，特別適(shì)合(hé)快(kuài)速(sù)篩(shāi)查；

♢ 數據自動保(bǎo)存，數(shù)據回(huí)調，單個(gè)樣品(pǐn)及批量樣品的報表(biǎo)生(shēng)成；

♢ 標準RS232數(shù)據(jù)通信接口，配置(zhì)專(zhuān)業軟件即可方(fāng)便(biàn)數據(jù)導出與(yǔ)外(wài)部連接；

♢ 滿(mǎn)足(zú)GMP要求(qiú)，係統具備(bèi)ISP在(zài)綫升(shēng)級(jí)功(gōng)能(néng)，可遠(yuǎn)程進(jìn)行(háng)升級更(gēng)新；

參數(shù)

測(cè)量原理(lǐ) 光刺激發光（PSL）法(fǎ)；

測試數量(liáng) 1 個(gè)

激(jī)發(fā)光(guāng)源 紅外(wài)陣列 LED；

光(guāng)子計數(shù)探測(cè)器 端窗(chuāng)光電(diàn)倍增管集(jí)成高壓電(diàn)源(yuán)；

暗計(jì)數(shù)率 典(diǎn)型值60CPS，最(zuì)大(dà)值150CPS（避光(guāng)30分鐘(zhōng)後，室溫25℃）

標準(zhǔn)閾(yù)值(zhí) 700/5000；

預設(shè)測試周期(qī)60秒(miǎo)

樣品(pǐn)皿(mǐn) 直(zhí)徑(jìng)50mm皮氏(shì)樣(yàng)品皿(mǐn)，鋁合金材(cái)質(zhì)，經(jīng)久(jiǔ)耐(nài)用(yòng)

外形尺(chǐ)寸 360mm(L)×410mm(D)×450mm(H)

電源(yuán) 220VAC，50Hz 淨重 17kg

標準(zhǔn)配置 測(cè)試(shì)儀(yí)主機，支架夾具(jù)1套，電源綫等(děng)；

選購(gòu)件 GMP 功能(néng)，計算(suàn)機(jī)（聯(lián)想(xiǎng)）