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當前(qián)位置:首頁  >  產(chǎn)品中心(xīn)  >  儀(yí)器(qì)儀(yí)表  >  露點儀(yí)  >  GSZ-RTS-4四探(tàn)針(zhēn)檢測(cè)儀
型(xíng)號:GSZ-RTS-4

四探針(zhēn)檢測儀(yí)

描(miáo)述(shù):GSZ-RTS-4型(xíng)數字式四探針測(cè)試儀是運用四探針(zhēn)測(cè)量(liáng)原理的多用(yòng)途(tú)綜合(hé)測(cè)量(liáng)設備(bèi)。該(gāi)儀(yí)器按(àn)照單晶矽物(wù)理測試方法(fǎ)家標準(zhǔn)並參(cān)考(kǎo)美 A.S.T.M 標準(zhǔn)而(ér)的,用(yòng)於測試半(bàn)導體材料電(diàn)阻(zǔ)率及(jí)方(fāng)塊(kuài)電阻(zǔ)(薄(báo)層電阻(zǔ))的用儀(yí)器。

  • 廠商(shāng)性質

    生(shēng)產(chǎn)廠家(jiā)
  • 更(gēng)新時間

    2024-04-16
  • 訪(fǎng)問(wèn)量

    1871
詳(xiáng)細介(jiè)紹
品(pǐn)牌恒奧德(dé)
四探(tàn)針(zhēn)測試儀/四探針(zhēn)電阻率測(cè)試儀(yí)/四(sì)探針檢(jiǎn)測(cè)儀(yí)/單測四探針(zhēn)檢(jiǎn)測(cè)儀(接(jiē)電(diàn)腦,含自動測(cè)試台)型號:GSZ-RTS-4(SDY-4替代(dài))GSZ-RTS-4型(xíng)數字(zì)式四探針測試儀(yí)是(shì)運用四探(tàn)針測(cè)量(liáng)原理的多(duō)用途(tú)綜(zōng)合測(cè)量(liáng)設備(bèi)。該儀器按(àn)照單晶(jīng)矽(guī)物理測(cè)試方(fāng)法(fǎ)家(jiā)標準(zhǔn)並參(cān)考美A.S.T.M標準(zhǔn)而的(dí),用於測試半(bàn)導體材(cái)料(liào)電(diàn)阻率及(jí)方塊(kuài)電阻(zǔ)(薄(báo)層電阻(zǔ))的(dí)用儀器。

本儀器適用(yòng)於半導體(tǐ)材料廠,半導體(tǐ)器件(jiàn)廠,科研單(dān)位,等(děng)院校對(duì)半導體材料的(dí)電阻(zǔ)性能測試(shì)。由主機(jī),測試台,四(sì)探針(zhēn)探頭(tóu),計(jì)算機等分組成,測量數據既(jì)可(kě)由主機直(zhí)接(jiē)顯(xiǎn)示,亦可(kě)由計算機控製測(cè)試采集(jí)測試數據到計(jì)算(suàn)機(jī)中加以(yǐ)分(fēn)析,然(rán)後以(yǐ)表格,圖形方(fāng)式統(tǒng)計(jì)分(fēn)析顯(xiǎn)示測試結(jié)果(guǒ)。采用(yòng)了電(diàn)子(zǐ)行(háng),裝(zhuāng)配(pèi)。具有能選(xuǎn)擇直觀(guān),測量取數(shù)快(kuài),度(dù),測(cè)量(liáng)範圍寬,穩(wěn)定性好(hǎo),結構緊湊(còu),易操作(zuò)等(děng)優點。

GSZ-RTS-4型四(sì)探針(zhēn)軟件測試係(xì)統是個運行(háng)在計算(suàn)機(jī)上(shàng)擁(yōng)有友好測試(shì)界麵的用戶程(chéng)序,通過此(cǐ)測(cè)試(shì)程序(xù)輔助使用戶(hù)簡便(biàn)地行(háng)各(gè)項測(cè)試及(jí)獲得測試(shì)數據並(bìng)對測試(shì)數(shù)據(jù)行統(tǒng)計分析(xī)。
測試(shì)程(chéng)序控製四探(tàn)針測(cè)試儀行(háng)測(cè)量並采集(jí)測(cè)試(shì)數據,把采集到的數據在計(jì)算機中(zhōng)加以分(fēn)析(xī),然後(hòu)把測試(shì)數據以(yǐ)表格,圖(tú)形直(zhí)觀地記(jì)錄(lù),顯示出來。用戶(hù)可(kě)對采集到的(dí)數據在電(diàn)腦中保存(cún)或者(zhě)打印以(yǐ)備日(rì)後(hòu)參考(kǎo)和(hé)查(chá)看(kàn),還(huán)可(kě)以把采集到的數據輸出(chū)到Excel中(zhōng),讓用(yòng)戶對數據(jù)行各種數據分(fēn)析

參數(shù):
 測(cè)量(liáng)範圍
 電(diàn)阻率:0.001~200Ω.cm(可擴展);  
 方塊(kuài)電(diàn)阻(zǔ):0.01~2000Ω/□(可擴展(zhǎn));
 電(diàn)導(dǎo)率(shuài):0.005~1000 s/cm
 電(diàn)阻:0.001~200Ω.cm;
可(kě)測晶片直(zhí)徑
 140mmX150mm(配(pèi)S-2A型測試(shì)台);
 200mmX200mm(配S-2B型(xíng)測試(shì)台(tái));
 400mmX500mm(配S-2C型測試台);
恒源
 電量(liáng)程(chéng)分(fēn)為(wéi)0.1mA,1mA,10mA,100mA四(sì)檔,各檔電連(lián)續可(kě)調(tiáo)
數字電(diàn)壓表
 量(liáng)程(chéng)及表示形(xíng)式:000.00~199.99mV;    
 分辨(biàn)力:10μV;
 輸(shū)入(rù)阻抗:>1000MΩ;
 度:±0.1% ;
 顯(xiǎn)示:四位半(bàn)紅色發(fā)光管(guǎn)數字(zì)顯示(shì);性(xìng),量(liáng)程自動顯示;
四探針(zhēn)探(tàn)頭(tóu)基本(běn)標
 間距(jù):1±0.01mm;
 針間緣(yuán)電(diàn)阻(zǔ):≥1000MΩ;
 機械遊移率:≤0.3%;
 探針:碳化鎢(wū)或速鋼(gāng)Ф0.5mm;
 探針(zhēn)壓力(lì):5~16 牛頓(總(zǒng)力);
四探針探頭(tóu)應(yīng)用(yòng)參數
 (見探(tàn)頭附帶的合(hé)格證)
模(mó)擬電(diàn)阻測(cè)量相(xiāng)對誤差(chà)
( 按(àn)JJG508-87行(háng))
 0.1Ω,1Ω,10Ω,100Ω小(xiǎo)於(yú)等於(yú)0.3%±1字
整(zhěng)機測量zui大相(xiāng)對誤差(chà)
(用矽標樣(yàng)片:0.01-180Ω.cm測(cè)試)≤±5%
整(zhěng)機測量(liáng)標(biāo)準(zhǔn)不確定(dìng)度(dù)
 ≤5%
計算(suàn)機通訊接口
 並口(kǒu)
標準(zhǔn)使用(yòng)環境
 溫(wēn)度(dù):23±2℃;
 相對濕(shī)度(dù):≤65%;
 無(wú)頻幹擾;
 無強光直射

 

 
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