描述(shù)：KDK-STY-1型(xíng)導電型號(hào)測試儀(yí)是嚴格按照(zhào)ASTM F42（非本(běn)征半導體材(cái)料(liào)導(dǎo)電(diàn)類(lèi)型(xíng)的標(biāo)準測試方法(fǎ)）中(zhōng)的熱(rè)探針(zhēn)法的導(dǎo)電類型(xíng)鑒(jiàn)別(bié)儀。
廠(chǎng)商性質
生(shēng)產(chǎn)廠家(jiā)更(gēng)新(xīn)時間
2024-04-14訪(fǎng)問(wèn)量(liáng)
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詳細(xì)介紹
| 品牌(pái) | 恒奧(ào)德 |
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導電(diàn)型(xíng)號測(cè)試儀/PN測(cè)試(shì)儀(yí)/矽料PN鑒別(bié)儀 型號(hào)：KDK-STY-1
| 產品簡介(jiè) |
| KDK-STY-1型導電(diàn)型號測(cè)試儀(yí)是(shì)嚴格(gé)按(àn)照(zhào)ASTM F42（非(fēi)本征半導體(tǐ)材(cái)料導電類型的標(biāo)準(zhǔn)測試方(fāng)法）中的(dí)熱探(tàn)針法的(dí)導電類型鑒別(bié)儀(yí)。 本(běn)儀(yí)器(qì)熱探筆內(nèi)裝(zhuāng)有(yǒu)加(jiā)熱和(hé)控溫組(zǔ)件(jiàn)，自(zì)動加(jiā)熱並使溫度(dù)維持在(zài)40-60℃範圍(wéi)內(nèi)，冷熱探(tàn)筆在半(bàn)導體(tǐ)材料上(shàng)產生的熱電動(dòng)勢，經低(dī)噪聲(shēng)，低(dī)漂移的集成運算(suàn)放大器(qì)放大後，用(yòng)寬(kuān)表麵檢計(jì)示型號方向，並可定(dìng)量測出熱電的數值大小。儀器靈(líng)敏度(dù)可調，可(kě)在(zài)廣泛的電阻(zǔ)率（從1000Ω·cm阻單晶到10-4Ω·cm重(zhòng)摻單晶(jīng)）範(fàn)圍(wéi)內判別半導體(tǐ)材料型號。 二，性能 1，可(kě)判(pàn)別鍺(zhě)，矽材(cái)料(liào)的(dí)電阻率範圍： 鍺(zhě)：非(fēi)本(běn)征鍺～10-4Ω·cm 矽(guī)：104～10-4Ω·cm 實(shí)驗證(zhèng)明(míng)：在(zài)室溫情(qíng)況下(xià)，對(duì)於電阻(zǔ)率低於1000Ω·cm的N型(xíng)和P型(xíng)矽(guī)，本(běn)方法結果(guǒ)可靠。 2，熱電(diàn)測(cè)量(liáng)範(fàn)圍：0～±1μA 分六(liù)個(gè)量(liáng)程： ±3nA，±10nA，±30nA，±100nA，±300nA，±1μA zui大(dà)偏轉(zhuǎn)靈敏(mǐn)度(dù)：1×10-11A/格 3，鍺，矽單(dān)晶(jīng)直徑(jìng)及長度：不受限製。 4，顯示方(fāng)式(shì)：中(zhōng)心刻度為(wéi)零位的(dí)寬表麵(miàn)針(zhēn)示器(qì)，針(zhēn)向(xiàng)正方(fāng)向偏(piān)轉被測樣(yàng)品為(wéi)P型，針向(xiàng)負方向(xiàng)偏(piān)轉被(bèi)測(cè)樣(yàng)品為(wéi)N型(xíng)。 5，探針：選用ASTM F42標(biāo)準中(zhōng)建議(yì)的不(bù)鏽(xiù)鋼作(zuò)探(tàn)針(zhēn)材料(liào)，針尖為(wéi)60°錐體(tǐ)，熱筆溫度自動(dòng)保(bǎo)持在40-60℃範圍(wéi)內。冷筆(bǐ)與(yǔ)室(shì)溫相(xiāng)同。 6，電源及耗：AC 220V±10%，50HZ交供電，耗(hào)電(diàn)小(xiǎo)於10W。 7，外型(xíng)尺(chǐ)寸：170×160×230（mm） 8，重量(liáng)：約(yuē)2.5kg |
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