數(shù)字(zì)IC測試(shì)儀(yí)   型(xíng)號(hào)：HAD-ICT-33C

HAD-ICT-33C數(shù)字(zì)集成電路測(cè)試(shì)儀(yí),數字(zì)IC測試儀產(chǎn)品(pǐn)點：
◆器(qì)件(jiàn)好(hǎo)壞判(pàn)別(bié)：當(dāng)不(bù)知被測器(qì)件(jiàn)的好壞(huài)時，儀器可判斷其好(hǎo)壞。
◆器件(jiàn)型號(hào)判(pàn)別(bié)：當(dāng)不(bù)知(zhī)被測器件(jiàn)型(xíng)號時，儀器可(kě)依據其(qí)邏(luó)輯能來判(pàn)斷 其型(xíng)號。
◆器(qì)件老(lǎo)化(huà)測(cè)試：當(dāng)懷疑(yí)被(bèi)測器件(jiàn)的(dí)穩(wěn)定(dìng)性(xìng)時，儀器可(kě)對(duì)其行連(lián)續老化(huà)測試(shì)。
◆器(qì)件代(dài)換查詢(xún)：儀(yí)器(qì)可(kě)顯示(shì)有(yǒu)無邏(luó)輯(jí)能*，引腳排列*的(dí)器件(jiàn)型號(hào)。

◆電壓(yā)調(tiáo)節選(xuǎn)擇(zé)：3V，5V，9V，15V。
◆內RAM數據(jù)修(xiū)改(gǎi)：HAD-ICT-33C可從鍵盤對自(zì)己內(nèi)RAM中的數據行隨(suí)機修改。
◆EPROM，EEPROM器件(jiàn)讀入：HAD-ICT-33C可將64K以(yǐ)內的EPROM，EEPROM器件(jiàn)內(nèi)的數據(jù)行讀(dú)入
並保(bǎo)存。
◆EPROM，EEPROM器(qì)件寫(xiě)入：HAD-ICT-33C可(kě)將內(nèi)RAM中(zhōng)的(dí)數據寫入到64K以內的EPROM，EEPROM
器件(jiàn)中,並(bìng)自動(dòng)校(xiào)驗。
◆ 新(xīn)增RS232接口，與(yǔ)PC通訊，互送資(zī)料。

光(guāng)學測角儀  型號(hào);HADC7
，主要用途：
HADC7光學測(cè)角儀結(jié)構簡(jiǎn)單，使(shǐ)用(yòng)廣泛，它(tā)是(shì)用(yòng)的(dí)方法測(cè)定角度(dù)的良(liáng)好儀器(qì)，它與標(biāo)準(zhǔn)件或(huò)角度(dù)塊(kuài)規可(kě)測量金屬與光學(xué)零件的(dí)角(jiǎo)度；測(cè)量導(dǎo)軌的(dí)直(zhí)綫性(xìng)；測(cè)量(liáng)零件(jiàn)件(jiàn)的平行(háng)度(dù)；測量兩(liǎng)個平麵的垂(chuí)直度。此(cǐ)外(wài)，還(huán)可以與多麵(miàn)體(tǐ)或(huò)角(jiǎo)度塊組合使用(yòng)行(háng)分(fēn)度測(cè)量等作(zuò)。
HADC7型(xíng)光學(xué)測角儀是(shì)在(zài)C60的基礎上增(zēng)加了測微器裝置。視場(cháng)中直讀小(xiǎo)格為1ˊ=60秒，而理論(lùn)上測(cè)微(wēi)器需(xū)轉(zhuǎn)8.33小(xiǎo)格(gé)，合(hé)到(dào)測微(wēi)器上的小(xiǎo)格=7.2秒。即(jí)測微(wēi)器每(měi)轉動周(zhōu)（50小格(gé)）=視場(cháng)中移動6小(xiǎo)格=360秒(miǎo)。本儀器之點為(wéi)解決了測量範圍大與(yǔ)度(dù)之間的對矛(máo)盾。

HADC7光(guāng)學測(cè)角儀

二(èr)，HADC7結構原(yuán)理：
本(běn)儀器有(yǒu)如下幾個分組(zǔ)成(chéng)：
1，帶有標尺(chǐ)分劃板的(dí)自準平(píng)行光(guāng)管；
2，具有(yǒu)平麵(miàn)性的作(zuò)台；
3，支架；
4，照明設(shè)備(bèi)；