
當(dāng)前位置:首(shǒu)頁 > 產(chǎn)品(pǐn)中(zhōng)心 > 專(zhuān)用(yòng)儀器儀表 > 檢測(cè)儀(yí) > HAD-2258C多功能數字式(shì)四(sì)探針檢(jiǎn)測(cè)儀

描述(shù):多功能數字式(shì)四(sì)探針檢(jiǎn)測儀 儀(yí)器具(jù)有測(cè)量精度高,靈(líng)敏度(dù)高,穩定性好,智能化(huà)程度高,結(jié)構(gòu)緊(jǐn)湊,使用簡(jiǎn)便等(děng)特(tè)點。儀(yí)器(qì)適(shì)用(yòng)於半(bàn)導(dǎo)體(tǐ)材料廠器(qì)件(jiàn)廠,科研單(dān)位(wèi),高(gāo)等(děng)院校對(duì)導體,半(bàn)導體,類半(bàn)導(dǎo)體(tǐ)材(cái)料(liào)的導電性能的測試。
廠(chǎng)商性質
生(shēng)產廠(chǎng)家(jiā)更(gēng)新時(shí)間
2026-04-14訪問量(liáng)
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詳細介(jiè)紹(shào)
| 品牌(pái) | 其(qí)他品(pǐn)牌 | 產地(dì)類別(bié) | 國產 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 環保,化工(gōng),石油,能源,製(zhì)藥(yào)/生物(wù)製(zhì)藥(yào) |
多功能(néng)數(shù)字式四探針檢(jiǎn)測(cè)儀/台(tái)式(shì)四探針電阻率測試(shì)儀 型號:HAD-2258C
概述(shù)
運用(yòng)四探針測(cè)量(liáng)原理測(cè)試(shì)電阻(zǔ)率/方(fāng)阻的(dí)多用途綜合測量(liáng)儀(yí)器。該儀(yí)器(qì)設計符(fú)合(hé)GB/T 1551-2009 《矽單晶電(diàn)阻(zǔ)率(shuài)測(cè)定方(fāng)法》,GB/T 1551-1995《矽,鍺單(dān)晶電阻率測定(dìng)直流(liú)兩(liǎng)探(tàn)針法》,GB/T 1552-1995《矽,鍺(zhě)單(dān)晶電阻(zǔ)率測定直(zhí)流(liú)四探針法(fǎ)》並(bìng)參考美國 A.S.T.M 標準。
儀器成套組成:由主機,選(xuǎn)配的(dí)四探(tàn)針探頭(tóu),測(cè)試(shì)台(tái)等部(bù)分(fēn)組(zǔ)成(chéng)。
主(zhǔ)機主(zhǔ)要由精(jīng)密(mì)恒(héng)流源(yuán),高(gāo)分辨(biàn)率ADC,嵌(qiàn)入式單(dān)片機係(xì)統組(zǔ)成。儀器(qì)所有參數設定,功能轉換全部采(cǎi)用數(shù)字化鍵盤(pán)輸入;具有零(líng)位,滿(mǎn)度自(zì)校功(gōng)能;電壓電流全自動轉換(huàn)量(liáng)程(chéng);測(cè)試結(jié)果由數字(zì)表(biǎo)頭(tóu)直接(jiē)顯示。本(běn)測(cè)試儀特贈(zèng)設測試結果(guǒ)分類功(gōng)能(néng),分類10類。
探(tàn)頭(tóu)選配:根據不同材料特性(xìng)需要,探頭可有(yǒu)多款(kuǎn)選配。有(yǒu)高(gāo)耐磨(mó)碳(tàn)化(huà)鎢探(tàn)針(zhēn)探頭(tóu),以測試(shì)矽類半(bàn)導體(tǐ),金(jīn)屬,導電塑(sù)料(liào)類等硬質材(cái)料(liào)的(dí)電阻(zǔ)率(shuài)/方阻;也有(yǒu)球形鍍金(jīn)銅(tóng)合(hé)金(jīn)探(tàn)針探(tàn)頭(tóu),可測柔性材(cái)料導電(diàn)薄膜,金屬塗(tú)層或薄膜,陶瓷或(huò)玻璃(lí)等(děng)基底上(shàng)導電膜(ITO膜)或(huò)納米塗(tú)層(céng)等半(bàn)導體(tǐ)材(cái)料的電阻率(shuài)/方(fāng)阻(zǔ)。換(huàn)上四端子測試夾(jiā)具,還(huán)可(kě)對(duì)電(diàn)阻(zǔ)器(qì)體(tǐ)電阻,金(jīn)屬導(dǎo)體(tǐ)的低(dī),中值電阻(zǔ)以(yǐ)及(jí)開關(guān)類接觸(chù)電阻進行(háng)測量。配專用探頭,也可測試(shì)電池極(jí)片等箔上(shàng)塗層(céng)電阻率方(fāng)阻。
測試台(tái)選配:一般(bān)四探(tàn)針法測(cè)試電阻率/方阻(zǔ)配(pèi)HAD-T-A或HAD-T-B或(huò)HAD-T-C或HAD-T-F型測試台。二探針(zhēn)法(fǎ)測(cè)試電阻率測(cè)試(shì)選HAD-T-K型測試台(tái),也可選配(pèi)HAD-T-D型(xíng)測試台(tái)以測(cè)試(shì)半導體粉(fěn)末電(diàn)阻(zǔ)率,選(xuǎn)配HAD-T-G型測試台(tái)測試(shì)橡(xiàng)塑材(cái)料電阻(zǔ)率。詳見(jiàn)《四探針儀器,探頭和測(cè)試台的特(tè)點(diǎn)與(yǔ)選(xuǎn)型參(cān)考(kǎo)》
儀(yí)器具(jù)有測(cè)量精度高(gāo),靈(líng)敏度高(gāo),穩(wěn)定性(xìng)好(hǎo),智能(néng)化(huà)程度(dù)高(gāo),結構緊湊,使用簡便(biàn)等特(tè)點(diǎn)。
儀器(qì)適用於(yú)半(bàn)導(dǎo)體材料(liào)廠器件廠(chǎng),科研(yán)單(dān)位,高(gāo)等院校對(duì)導體,半導體(tǐ),類(lèi)半(bàn)導體材(cái)料的導(dǎo)電(diàn)性能的測(cè)試。
三(sān),多功(gōng)能(néng)數字式(shì)四探針(zhēn)檢(jiǎn)測儀(yí)基(jī)本(běn)技術參數
1. 測(cè)量(liáng)範(fàn)圍,分辨(biàn)率(shuài)(括號內為可(kě)向下拓展(zhǎn)1個數量級)
電 阻:10.0×10-6 ~ 200.0×103 Ω, 分辨(biàn)率1.0×10-6 ~ 0.1×103 Ω
(1.0×10-6 ~ 20.00×103 Ω, 分辨(biàn)率(shuài)0.1×10-6 ~ 0.01×103 Ω)
電 阻 率(shuài):10.0×10-6 ~ 200.0×103 Ω-cm 分辨率(shuài)1.0×10-6 ~ 0.1×103 Ω-cm
(1.0×10-6 ~ 20.00×103 Ω-cm 分辨(biàn)率0.1×10-6 ~ 0.01×103 Ω-cm)
方塊(kuài)電(diàn)阻(zǔ):50.0×10-6 ~ 900.0×103 Ω/□ 分(fēn)辨(biàn)率5.0×10-6 ~ 0.5×103 Ω/□
(5.0×10-6 ~ 100.0×103 Ω/□ 分(fēn)辨率0.5×10-6 ~ 0.1×103 Ω/□)
2. 材料(liào)尺(chǐ)寸(cùn)(由(yóu)選(xuǎn)配測試(shì)台(tái)和測(cè)試(shì)方式(shì)決定(dìng))
直 徑(jìng): HAD-T-A圓(yuán)測試(shì)台直(zhí)接測試(shì)方(fāng)式(shì) Φ15~130mm,手(shǒu)持方式不限
HAD-T-B/C/F方(fāng)測試(shì)台直(zhí)接(jiē)測(cè)試方式180mm×180mm,手持方式不限.
長(高(gāo))度(dù): 測試台直接測(cè)試方(fāng)式 H≤100mm, 手持方式(shì)不(bù)限.
測(cè)量(liáng)方(fāng)位: 軸向(xiàng),徑(jìng)向均可
量(liáng)程劃(huá)分(fēn)及誤差(chà)等級(jí)
滿(mǎn)度顯(xiǎn)示 | 200.0 | 20.00 | 2.000 | 200.0 | 20.00 | 2.000 | 200.0 | 20.00 | 2.000 |
常(cháng)規(guī)量(liáng)程(chéng) | kΩ-cm/□ | kΩ-cm/□ | Ω-cm/□ | mΩ-cm/□ | --- | ||||
拓展量程 | --- | kΩ-cm/□ | Ω-cm/□ | mΩ-cm/□ | mΩ-cm/□ | ||||
基本誤差(chà) | ±2%FSB ±4LSB | ±1.5%FSB ±4LSB | ±0.5%FSB±2LSB | ±0.5%FSB ±4LSB | ±1.0%FSB ±4LSB | ||||
工作電源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W
5.外形尺(chǐ)寸(cùn): 245mm(長(cháng))×220 mm(寬)×95mm(高)
淨 重:≤1.5~2.0kg
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