1.空(kōng)氣現(xiàn)場(cháng)硫化(huà)氫(qīng)檢測儀(yí) 型號：XT18-
GDYK-101S
儀(yí)器點(diǎn)：
* 標方法(fǎ)亞甲(jiǎ)基蘭法(fǎ)（GB/11742-89）
* 可(kě)同時(shí)顯(xiǎn)示出硫化(huà)氫(qīng)的濃度和(hé)吸(xī)光度(dù)值(zhí)
* 內置充電(diàn)電池(chí)，適(shì)用(yòng)於(yú)室(shì)內(nèi)和(hé)野外(wài)現場樣(yàng)品中遊離硫(liú)化氫濃度的定(dìng)量(liáng)測(cè)定
* 采用(yòng)單片機控(kòng)製(zhì)，具有光(guāng)譜(pǔ)數(shù)據處理能
* 大屏幕液晶(jīng)中文(wén)顯示，單片(piàn)機(jī)智能控(kòng)製，人機(jī)交互式(shì)操(cāo)作, 具(jù)有測(cè)量，設(shè)置，記(jì)錄(lù)，保存(cún)和數(shù)據(jù)統計處(chǔ)理能
* 化學(xué)試劑包顯色(sè)，樣品和試劑用量少(shǎo)，防止並減少(shǎo)了(liǎo)二次汙染
* 實(shí)時(shí)顯示環境溫度，可設定(dìng)顯色時(shí)間(jiān)，便於實驗操(cāo)作(zuò)
* 現場比色讀出(chū)空氣(qì)中(zhōng)硫(liú)化氫(qīng)的含量(liáng)
* 測定下(xià)限(xiàn)：0.01mg/m3
* 測(cè)定範圍：0.00-1.00mg/m3
* 測量度(dù)：5%
空氣現場(cháng)硫(liú)化(huà)氫檢測儀配置：
* 主(zhǔ)機(jī)1台
* 大(dà)氣采樣器(qì)1台
* 樣品(pǐn)前處(chǔ)理器具(jù)1套(tào)
* 微機接(jiē)口和數(shù)據處(chǔ)理軟件(jiàn)1套
* 試(shì)劑套（100次(cì)）

2.四(sì)探針程控電動(dòng)測試架/遠程(chéng)電(diàn)動(dòng)檢(jiǎn)測(cè)設備/程(chéng)控(kòng)電(diàn)動測(cè)試架  型號：KDK-KDDJ-2

KDK-KDDJ-2型電(diàn)動架是使用(yòng)步電(diàn)機(jī)驅動(dòng)，采(cǎi)用單板機(jī)可編(biān)程控製(zhì)，操作(zuò)方便，可(kě)隨意調節(jié)探(tàn)頭的下降zui低點(diǎn)，上升zui點固(gù)定，探(tàn)頭(tóu)在(zài)zuizui低點(diǎn)的停留(liú)時間範圍(wéi)廣（從(cóng)0-19秒）
。矽(guī)片矽錠均可測量，普通(tōng)矽錠(dìng)測量(liáng)度為180mm（可按(àn)用(yòng)戶要求加(jiā)），測試台(tái)zui大(dà)直(zhí)徑(jìng)200mm，不能旋(xuán)轉和移(yí)動
。

2，使(shǐ)用方法

電(diàn)機在電(diàn)源(yuán)開(kāi)關接通(tōng)和(hé)按(àn)停(tíng)止(zhǐ)按鈕後自(zì)動上升至(zhì)zui點，入備用狀態
。

（1）自動： 按(àn)自動按鈕(niǔ)電(diàn)機就按設(shè)定自動(dòng)上升和(hé)下降(jiàng)
。上升(shēng)的(dí)zui點是固(gù)定不變(biàn)的，下降(jiàng)的zui低點(diǎn)可(kě)以隨意(yì)調節，在zui和zui低點(diǎn)的停(tíng)留時間(jiān)是(shì)可調的
。當電(diàn)機入(rù)自(zì)動(dòng)狀(zhuàng)態(tài)時按其他(tā)能(néng)按鈕均無效，如需停(tíng)止運(yùn)行行(háng)其它操作，按下停止按(àn)鈕(niǔ)1秒即可
。

（2）手動： 按(àn)下手動(dòng)按鈕(niǔ)電(diàn)機就下降至當前(qián)設定(dìng)的zui低(dī)點(diǎn)，再按(àn)下(xià)就上(shàng)升(shēng)至zui點
。

注：如需(xū)重新設(shè)定zui低點(diǎn)時，設定(dìng)結束後按(àn)停止按(àn)鈕再(zài)行手(shǒu)動(dòng)做
。如在剛(gāng)設定好zui低點後(hòu)直接按(àn)手動按鈕(niǔ)探(tàn)頭(tóu)會(huì)下降(jiàng)到(dào)導軌(guǐ)的zui低點，（行程(chéng)開關(guān)接通為止）可能(néng)會對(duì)被(bèi)測試(shì)物(wù)品(pǐn)成(chéng)損壞
。

（3）定(dìng)位(wèi)： 當需(xū)要(yào)重(zhòng)新修改探頭下降的zui低(dī)點時，設備在(zài)備(bèi)用(yòng)狀(zhuàng)態下才可行(háng)修改，修(xiū)改前要(yào)把以(yǐ)前(qián)的(dí)數據清(qīng)除掉，按定位清0即(jí)可(kě)
。之(zhī)後按(àn)定位按鈕(niǔ)，每按(àn)下探(tàn)頭就往下(xià)移動(dòng)0.5mm，數據(jù)自動(dòng)加1，zui大數據(jù)約為(wéi)70-80，到(dào)達導軌的zui低點(diǎn)時行程(chéng)開關(guān)接通數據(jù)自(zì)動(dòng)回0，再按(àn)定(dìng)位按(àn)鈕(niǔ)無(wú)效
。探頭下(xià)降的(dí)zui低(dī)點設(shè)定(dìng)好(hǎo)後按停(tíng)止(zhǐ)按鈕1秒，就(jiù)可以行(háng)自動或(huò)手動操作(zuò)
。

（4）定位清0：在(zài)需(xū)要(yào)重新設定探(tàn)頭(tóu)下降(jiàng)zui低(dī)點(diǎn)時使用，按(àn)下後清(qīng)除原有(yǒu)數據(jù)源(yuán)方便重(zhòng)新設(shè)定(dìng)
。

（5）上(shàng)延(yán)時(shí)： 設定(dìng)探(tàn)頭(tóu)在(zài)上升(shēng)至zui點(diǎn)時需要停留的時間(jiān)，按(àn)上延(yán)時按(àn)鈕能窗口(kǒu)顯示(shì)UP，這時(shí)按        調(tiáo)整到需要(yào)時間
。時(shí)間(jiān)調節範(fàn)圍從(cóng)0-19秒，每(měi)按次數(shù)據(jù)自動(dòng)+或-1（範(fàn)圍為0-95），對(duì)應(yīng)時(shí)間約為1≈0.2秒，時間(jiān)設(shè)定好(hǎo)後再按(àn)上(shàng)延時(shí)按鈕確定
。

（6）下延時： 設定探頭在(zài)下(xià)降至zui低點(diǎn)時探頭(tóu)需(xū)要(yào)在被測樣品(pǐn)上(shàng)的停留(liú)時間，按(àn)下(xià)延時按(àn)鈕(niǔ)能(néng)窗口顯示d∩，這時(shí)按(àn)        調整到需(xū)要時間
。時間調節(jié)範圍從(cóng)0-19秒(miǎo)，每(měi)按次數(shù)據(jù)自(zì)動(dòng)+或-1（範(fàn)圍為0-95），對應時(shí)間(jiān)約為(wéi)1≈0.2秒(miǎo)，時間(jiān)設(shè)定(dìng)好後再按(àn)下(xià)延(yán)時(shí)按(àn)鈕確(què)定
。

（7）   ：設定探頭在下降至(zhì)zui低點或探頭在(zài)上升至zui點(diǎn)時(shí)的停留時間(jiān)，每(měi)按次(cì)數據(jù)自(zì)動+1（範圍(wéi)為(wéi)0-95），大於(yú)95時(shí)自動回0，對(duì)應(yīng)時間(jiān)約為(wéi)數據1≈0.2秒

（8）   ：設(shè)定探(tàn)頭在(zài)下降(jiàng)至(zhì)zui低點(diǎn)或探頭(tóu)在(zài)上升(shēng)至zui點(diǎn)時(shí)的(dí)停(tíng)留(liú)時間(jiān)，每按(àn)次(cì)數據(jù)自動-1（範(fàn)圍為(wéi)0-95），小(xiǎo)於(yú)0後(hòu)自(zì)動(dòng)跳到95，對應(yīng)時間(jiān)約為(wéi)數據1≈0.2秒

3，日常維(wéi)護(hù)

（1）在測試架(jià)的立柱上(shàng)有卡(qiǎ)環，防(fáng)止(zhǐ)電動測試(shì)件(jiàn)因操作失誤而跌落，保護探(tàn)針頭和測(cè)試(shì)台麵
。可根據需要把(bǎ)卡環緊固在合適的(dí)位置
。

（2）測(cè)試(shì)台(tái)可360度旋轉(zhuǎn)，通(tōng)過靠(kào)近把手的(dí)內六角螺(luó)絲(sī)調(tiáo)節旋(xuán)轉(zhuǎn)的(dí)鬆(sōng)緊(jǐn)
。

（3）在(zài)設定探頭下(xià)降(jiàng)zui低(dī)點時，般把(bǎ)砝碼起1-2mm即可，砝(fǎ)碼zui可(kě)起約(yuē)為8mm，起過可能(néng)會(huì)卡住探(tàn)頭引(yǐn)出綫
。

（4）在電動(dòng)架(jià)上的機(jī)械活(huó)動分需定(dìng)期加黃(huáng)油(yóu)，保證活動順暢(chàng)
。在(zài)探(tàn)針頭(tóu)上的(dí)兩(liǎng)條(tiáo)直綫軸(zhóu)承上也需(xū)定(dìng)期(qī)加(jiā)少量(liáng)潤(rùn)滑油
。

4，主機(jī)能(néng)數(shù)

（4）供電(diàn)電(diàn)源(yuán)：

AC  220V±10%    50/60  Hz    率(shuài)：40W

（5）使用(yòng)環(huán)境(jìng)：

溫度：23±2℃   相對濕度：≤65%

無較強的電(diàn)場幹(gān)擾(rǎo)，無(wú)強光直(zhí)接照(zhào)射

（6）重(zhòng)量，體積(jī)：

主機重量：30kg

體(tǐ)積(jī)：300×400×400（單位：mm  長(cháng)度(dù)×寬度×度）

3. 紅寶石探針頭係列 紅寶石探(tàn)測(cè)器(qì) 紅(hóng)寶石探針頭 紅寶石(shí)探(tàn)測儀(yí)（A） 型號(hào)：KDK-KDT

，點
1， 使(shǐ)用(yòng)幾何尺(chǐ)寸十分的紅寶(bǎo)石軸套(tào)，確(què)保(bǎo)探(tàn)針間距(jù)的恒(héng)定，準確
。
2， 控(kòng)製寶石內孔與探針之(zhī)間的(dí)縫隙(xì)不(bù)大於(yú)6μｍ，保(bǎo)證(zhèng)探針的小(xiǎo)遊移(yí)率(shuài)
。
3， 采(cǎi)用製的(dí)S型(xíng)懸(xuán)臂式彈簧(huáng)，使(shǐ)每(měi)根探(tàn)針都具有立，準(zhǔn)確的壓(yā)力(lì)
。
4， 量具(jù)度(dù)的硬質合金探針(zhēn)，在(zài)寶石(shí)導孔內穩(wěn)定(dìng)運(yùn)動，持久(jiǔ)耐(nài)磨(mó)
。
二(èr)，用(yòng)途
1， 測量矽，鍺單(dān)晶（棒(bàng)料，晶(jīng)片）電(diàn)阻(zǔ)率，測(cè)定矽外(wài)延層，擴散層和離子注入層的方(fāng)塊(kuài)電(diàn)阻(zǔ)
。
2， 測量(liáng)導(dǎo)電(diàn)玻(bō)璃（ITO）和其它(tā)導電(diàn)薄(báo)膜(mó)的(dí)方塊(kuài)電阻
。
三(sān)，探針(zhēn)間(jiān)距(jù)
1， 直(zhí)綫四探(tàn)針(zhēn)…………… 1.00mm，1.27mm，1.59mm
2， 方(fāng)形(xíng)四探(tàn)針…………… 1.00mm
3， 直綫(xiàn)三(sān)探針(zhēn)…………… 1.00mm，1.27mm，1.59mm
4， 兩探針    …………… 1.00mm，1.59mm，4.76mm，10.00mm
四(sì)，標(biāo)
1， 遊移率(shuài)

B…………… ＜0.5%
                  A……………＜0.3%

AA………… ＜0.2%
                  AAA…………＜0.1%
2， 間距(jù)偏(piān)差

B…………… ＜3%
                  A…………… ＜2%
                  AA…………  ＜2%
                  AAA………… ＜1%
3， zui大(dà)針(zhēn)與導孔(kǒng)間隙：0.006mm
4， 探(tàn)針材(cái)料：硬(yìng)質合金(jīn)（主成(chéng)份(fèn)：口(kǒu)碳化鎢(wū)）或(huò)速鋼(gāng)
5， 探(tàn)針壓(yā)力(lì)      標(biāo)準(zhǔn)壓力(lì)：6—10N（4根(gēn)針總壓(yā)力(lì)）
                       小(xiǎo)壓力：1.2—5N（4根(gēn)針總壓力(lì)）    
                       1牛頓(dùn)（N）=101.97克(kè)
6， 針尖壓(yā)痕(hén)直(zhí)徑(jìng)：25—100μｍ，100—250μｍ（簿(bù)層）
7， 500V緣電阻(zǔ)：＞1000MΩ

4. 導(dǎo)電型號測(cè)試(shì)儀(yí) 導電型號(hào)檢(jiǎn)測(cè)儀 型號：KDK-STY-3

KDK-STY—3型導電(diàn)型號測(cè)試(shì)儀是嚴(yán)格按照標(biāo)GB/T1550-1997和(hé)ASTM  F42（非(fēi)本征(zhēng)半導體(tǐ)村料導(dǎo)電(diàn)類型的標準測試(shì)方(fāng)法(fǎ)）中的熱(rè)探針及(jí)整(zhěng)導(dǎo)電類型測試方(fāng)法(fǎ)的導(dǎo)電類型鑒(jiàn)別(bié)儀(yí)
。

本(běn)儀器熱(rè)探(tàn)筆(bǐ)內裝有加熱和控溫組(zǔ)件，自(zì)動(dòng)加熱(rè)並使(shǐ)溫度維持在(zài)50?60℃範圍內，冷熱探筆在(zài)半(bàn)導體材料(liào)上產(chǎn)生的(dí)熱電動(dòng)勢(shì)及(jí)整法(fǎ)產生(shēng)的電勢差(chà)經(jīng)低噪聲(shēng)，低漂移(yí)的(dí)集(jí)成運算(suàn)放(fàng)大(dà)器放大後，用液晶顯示器件（LCD）及(jí)檢(jiǎn)計(jì)示型號方(fāng)向(xiàng)
。儀器靈(líng)敏度(dù)分(fēn)，低兩檔(dàng)，可(kě)判別大分非本(běn)征半導(dǎo)體材料型號（從阻(zǔ)單晶到(dào)重摻(chān)單(dān)晶）
。

二(èr)，性能(néng)

1，可判別(bié)鍺，矽著料的(dí)電(diàn)阻率(shuài)範圍：

鍺：非本征鍺10³～10^?4Ω·cm

矽：10⁺⁴～10^-4Ω·cm

經內外實驗證明：在(zài)室溫(wēn)情況下，熱電(diàn)法(fǎ)對於電阻率低於(yú)1000Ω·cm的(dí)矽單晶(jīng)整法結果可靠(kào)
。

2，鍺，矽單晶直(zhí)徑及長度(dù)：不受(shòu)限製

3，顯示(shì)方(fāng)式(shì)：由顯示N和P的液晶(jīng)器件(jiàn)直(zhí)接示，同時(shí)中心刻(kè)度(dù)為(wéi)零位(wèi)檢計(jì)也在示(shì)型(xíng)號(hào)，針(zhēn)向左偏(piān)轉(zhuǎn)被測樣品(pǐn)為(wéi)N型，針(zhēn)向右偏轉被測樣品為P型
。

5，探(tàn)針(zhēn)：用(yòng)ASTM F42標準中建議的(dí)不鏽鋼作冷(lěng)熱探(tàn)針材料，針尖為60℃錐體，熱筆(bǐ)溫度自動(dòng)保持(chí)在(zài)50?60℃範(fàn)圍內(nèi)，冷(lěng)筆與室溫(wēn)相同
。整(zhěng)法(fǎ)行(háng)選(xuǎn)用(yòng)硬質(zhì)合金作探針
。

6，電源及(jí)耗(hào)：AC 220V±10%，50HZ交供電(diàn)，zui大耗（熱筆加熱(rè)狀(zhuàng)態）小於(yú)40W，平均(jūn)耗≈10W
。

7，外(wài)型(xíng)尺寸：370×320×110（mm）

8，重量：約 4 kg

5. 導電(diàn)型號測(cè)試儀 導(dǎo)電(diàn)型號(hào)檢(jiǎn)測(cè)儀(yí) 型(xíng)號：KDK-STY-2

本(běn)儀(yí)器運(yùn)用了四(sì)代集成電(diàn)路，
。儀器采(cǎi)用(yòng)熱電(diàn)法(fǎ)測量矽單晶型(xíng)號，配置了(liǎo)可自動恒(héng)溫的熱探筆，並(bìng)由(yóu)液晶器件(jiàn)直接(jiē)發顯(xiǎn)示(shì)N，P型(xíng)
。
對於電(diàn)阻率(shuài)小於(yú)1000Ω.cm的矽(guī)片，塊(kuài)都(dū)可以(yǐ)準確地鑒定(dìng)出導電型(xíng)號(hào)
。
使用方法：
1，插(chā)好背(bèi)板上的電(diàn)源綫，並與(yǔ)～220V插座相接(jiē)；將熱筆(bǐ)，冷筆(bǐ)與麵板(bǎn)上(shàng)4芯(xīn)，3芯(xīn)插(chā)座相(xiāng)接
。
2，打(dǎ)開(kāi)儀(yí)器(qì)麵板左(zuǒ)下角的電(diàn)源(yuán)開(kāi)關(guān)，電源(yuán)示燈及熱(rè)筆加熱燈(dēng)亮
。10分(fēn)鐘左(zuǒ)右熱(rè)筆達(dá)到(dào)作(zuò)溫度時，保(bǎo)溫(wēn)（綠）燈亮，即(jí)可行(háng)型號測(cè)量
。熱(rè)探(tàn)筆(bǐ)隨後自(zì)動入(rù)保(bǎo)溫→加熱→保溫→…循(xún)環，溫(wēn)度(dù)保(bǎo)持在40-60℃（標(biāo)及際(jì)標準規定的(dí)溫度）
。
3，將熱筆在(zài)被測(cè)單晶麵(miàn)上(shàng)放(fàng)穩，後將冷(lěng)筆(bǐ)點壓在(zài)單晶(jīng)上，液晶(jīng)顯(xiǎn)示(shì)器即顯示型(xíng)號（N或(huò)P）
。
4，測(cè)量(liáng)電(diàn)阻(zǔ)率(shuài)較(jiào)的單(dān)晶時，請將(jiāng)N型(xíng)調(tiáo)零(líng)電位器P型(xíng)調(tiáo)零電位器調(tiáo)近(jìn)臨(lín)界點(diǎn)（逆(nì)時針旋轉），以便提(tí)儀器(qì)的測量靈(líng)敏(mǐn)度(dù)
。
5，在P型(xíng)，N型顯示(shì)不穩(wěn)定(dìng)時(shí)，以(yǐ)多次能重復(fù)的測(cè)量(liáng)結(jié)果為(wéi)準
。
6，測(cè)量(liáng)時(shí)握(wò)筆(bǐ)的手(shǒu)不要(yào)與被(bèi)測單(dān)晶接觸，以免人體(tǐ)感應(yīng)影(yǐng)響測(cè)量結(jié)果
。