四(sì)探針測試(shì)儀  型(xíng)號:SDZ-SZT-2

1．主機采用(yòng)界(jiè)的電(diàn)路(lù)，所測(cè)數(shù)值更，更(gēng)快(kuài)，更準（代為(wéi)傳統式電(diàn)路，缺(quē)點：體(tǐ)積大(dà)，速度(dù)慢(màn)，元器件(jiàn)繁(fán)多導致影(yǐng)響機器(qì)壽命）。
2．屏(píng)幕(mù)采用液(yè)晶顯示(shì)（代(dài)為隻有數碼管顯示）。
3．匹(pǐ)配電腦(nǎo)接口及(jí)軟(ruǎn)件，讓(ràng)操作簡便(biàn)明了化（可直接連(lián)接(jiē)電(diàn)腦(nǎo)，電腦(nǎo)行自(zì)動運算根(gēn)據(jù)輸入(rù)厚(hòu)度(dù)，自動(dòng)比照並(bìng)修正(zhèng)係數，使被(bèi)測(cè)結(jié)果(guǒ)更，數據可儲(chǔ)藏(cáng)或刪除，利於使用(yòng)方保存(cún)記錄(lù)）。
4．二代的測試架采用(yòng)自(zì)動傳(chuán)感裝(zhuāng)置，接(jiē)近(jìn)被測物(wù)體(tǐ)時實(shí)行(háng)自(zì)動(dòng)減(jiǎn)速，避免了被測物(wù)體的損耗(hào)和探(tàn)頭的磨(mó)損（於(yú)內市場上何(hé)款產品(pǐn)的測(cè)試架(jià)，老代(dài)為手動(dòng)）。
5．本(běn)儀器(qì)電壓(yā)檔為自動調(tiáo)整(zhěng),電檔(dàng)為(wéi)半自動.不(bù)清楚被(bèi)測物體(tǐ)阻值時(shí),可按菜單選擇(zé)100MA電檔(dàng)行(háng)自動搜索（電(diàn)可(kě)由(yóu)至低自動(dòng)搜索,不(bù)能(néng)由(yóu)低向搜索）,當(dāng)選(xuǎn)擇(zé)好電檔後(hòu),電壓會自(zì)動(dòng)行調整.
6. 本(běn)儀器(qì)測試(shì)電(diàn)阻，電(diàn)阻率(shuài)，方(fāng)塊(kuài)電(diàn)阻時(shí)，標(biāo)準係數為(wéi)機(jī)器(qì)自(zì)帶(dài)自調，另(lìng)外(wài)手(shǒu)調整(zhěng)，省(shěng)去了原儀器的諸(zhū)多麻(má)煩(fán)。
7．測試探(tàn)頭為(wéi)鎢(wū)針，市(shì)場上多為速(sù)鋼針(zhēn)。
8．每(měi)次測量均有內置(zhì)計算機自動(dòng)行溫(wēn)度(dù)補(bǔ)償(cháng)及電壓電(diàn)矯正。
9．整機測量標(biāo)準不(bù)確定度：≤ 2%（內其它廠家誤差為(wéi)≤ 5% ）
參數：
1． 測(cè)量(liáng)範圍：
電阻(zǔ)率(shuài)：10的-4次方~10的(dí)5 次方Ω-cm
方(fāng)塊電阻：10的-4次方(fāng) ~10的(dí)5次方(fāng)Ω/□
電(diàn)阻：10的(dí)-4次(cì)方 ~10的(dí)5 次方Ω
2． 可測半導體(tǐ)材料尺寸
直徑：5mm-130cm
長(cháng)度：≤400mm
3． 測(cè)量方法(fǎ)：
軸(zhóu)向，斷麵均可
4． 顯(xiǎn)示方(fāng)式：41/2,數顯(xiǎn),性(xìng)，過(guò)載(zǎi)自動顯示(shì)，小(xiǎo)數點，單位(wèi)自(zì)動顯示(shì)。
5． 恒源：
（1） 電(diàn)輸出：直電(diàn)0~100 mA連續可(kě)調(tiáo)。
（2） 量程(chéng)：10，100μA，1，10，100mA
（3） 誤差(chà)：±0.5%讀數±1個(gè)字
6.四(sì)探(tàn)針(zhēn)測(cè)試(shì)探頭
（1） 探針間距:1mm
（2） 材(cái)料(liào):碳化(huà)鎢.探針機械遊(yóu)移(yí)率:±1.0%
7.電(diàn)源:220±10% 50Hz或60Hz 耗:＜35W
8.外型尺(chǐ)寸(cùn):260×160×215mm
不帶電(diàn)腦接口(kǒu)