用戶(hù)可以(yǐ)根據測(cè)量的(dí)需(xū)要選用不同的測厚儀(yí)，磁(cí)性測厚儀和(hé)渦(wō)測(cè)厚儀般測量的厚(hòu)度適用(yòng)0-5毫米(mǐ)，這(zhè)類(lèi)儀(yí)器(qì)又(yòu)分探頭(tóu)與(yǔ)主機(jī)體型(xíng)，探頭與(yǔ)主機(jī)分離型(xíng)，前(qián)者(zhě)操作(zuò)便捷，後者適(shì)用於測(cè)非(fēi)平(píng)麵的外(wài)形(xíng)。更厚的致密材質材料要用聲波測(cè)厚儀來(lái)測，測量(liáng)的(dí)厚度可以達到(dào)0.7-250毫(háo)米(mǐ)。電解法(fǎ)測(cè)厚儀適(shì)合測(cè)量很(hěn)細(xì)的綫(xiàn)上麵(miàn)電(diàn)鍍(dù)的(dí)金，銀等(děng)金(jīn)屬的厚度(dù)。
儀(yí)器(qì)由(yóu)德(dé)，集(jí)合(hé)了磁性測厚儀(yí)和渦測厚儀兩種儀器的能(néng)，可用於(yú)測量(liáng)鐵及(jí)非鐵(tiě)金(jīn)屬(shǔ)基(jī)體上塗層(céng)的厚(hòu)度(dù)。如:
* 鋼(gāng)鐵上(shàng)的(dí)銅(tóng)，鉻，鋅(xīn)等電鍍層(céng)或(huò)油(yóu)漆，塗料(liào)，搪瓷等(děng)塗(tú)層厚度。
* 鋁(lǚ)，鎂(měi)材料上陽(yáng)氧化膜的厚(hòu)度。
* 銅，鋁(lǚ)，鎂(měi)，鋅(xīn)等(děng)非鐵金(jīn)屬(shǔ)材(cái)料(liào)上的(dí)塗層厚度(dù)。
* 鋁，銅，金等(děng)箔帶材及紙張(zhāng)，塑料膜(mó)的厚(hòu)度(dù)。
* 各(gè)種鋼(gāng)鐵及非鐵金(jīn)屬(shǔ)材料上熱噴塗(tú)層(céng)的(dí)厚度。
儀器(qì)符(fú)合家標(biāo)準GB/T4956和GB/T4957，可(kě)用於(yú)檢(jiǎn)驗(yàn)，驗收檢驗(yàn)及(jí)質量監(jiān)督檢驗。
儀器點
* 采用(yòng)雙能(néng)內置式(shì)探頭(tóu)，自動(dòng)識(shí)別(bié)鐵基或非鐵基(jī)體(tǐ)材料，並(bìng)選(xuǎn)擇相(xiāng)應(yīng)的測(cè)量方(fāng)式行(háng)測(cè)量(liáng)。
* 符(fú)合人體程學(xué)的(dí)雙顯(xiǎn)示(shì)屏(píng)結(jié)構(gòu)，可(kě)以在(zài)何測量位置讀(dú)取(qǔ)測(cè)量(liáng)數(shù)據(jù)。
* 采(cǎi)用手機(jī)菜單(dān)式能選(xuǎn)擇方式(shì)，操作十(shí)分(fēn)簡便(biàn)。
* 可設定上下限值(zhí)，測量(liáng)結(jié)果(guǒ)出(chū)或符合上下(xià)限數(shù)值(zhí)時，儀器(qì)會發出(chū)相應的聲音或(huò)閃(shǎn)爍(shuò)燈(dēng)提示。
* 穩(wěn)定(dìng)性，通常(cháng)不校正(zhèng)便(biàn)可長期(qī)使(shǐ)用(yòng)。
規(guī)格
量 程: 0~2000μm ,
電 源: 兩節5號電池
標準配置(zhì)
對材料(liào)表麵(miàn)保護，裝飾形成的覆蓋(gài)層(céng)，如(rú)塗層，鍍層，敷(fū)層(céng)，貼(tiē)層，化學生(shēng)成膜(mó)等(děng)，在有(yǒu)關(guān)家和(hé)際(jì)標準(zhǔn)中(zhōng)稱(chēng)為(wéi)覆(fù)層(coating)。
覆層厚度(dù)測量(liáng)已成(chéng)為業，表麵(miàn)程的(dí)重要環，是(shì)產品達到優等質量(liáng)標準的(dí)手段(duàn)。為使產品際(jì)化，我(wǒ)出口(kǒu)商(shāng)品(pǐn)和涉外項目中(zhōng)，對覆(fù)層厚度有(yǒu)了(liǎo)明(míng)確的要求(qiú)。
覆層厚度的測量方(fāng)法主要有(yǒu):楔(xiē)切法，光截法，電解(jiě)法(fǎ)，厚度(dù)差(chà)測量法，稱重法，X射綫(xiàn)熒光(guāng)法，β射綫反向散射法，電容法(fǎ)，磁性(xìng)測量法(fǎ)及渦(wō)測量法等(děng)。這(zhè)些(xiē)方(fāng)法(fǎ)中前(qián)五(wǔ)種(zhǒng)是有(yǒu)損檢測(cè)，測(cè)量手段繁(fán)瑣(suǒ)，速(sù)度慢(màn)，多適(shì)用(yòng)於抽樣檢驗(yàn)。
X射(shè)綫(xiàn)和β射綫法是無(wú)接觸(chù)無(wú)損測量(liáng)，但(dàn)裝置復雜(zá)昂貴，測(cè)量(liáng)範圍較小。因有(yǒu)放(fàng)射源，使用(yòng)者遵守射綫防護(hù)規範。X射綫(xiàn)法可測薄(báo)鍍層(céng)，雙鍍層(céng)，合金鍍層。β射(shè)綫法適合(hé)鍍層和底材原(yuán)子(zǐ)序號大於3的鍍層(céng)測量。電容(róng)法僅在(zài)薄導電體的(dí)緣(yuán)覆層測厚時采(cǎi)用(yòng)。
隨著的(dí)日(rì)益(yì)步(bù)，別(bié)是(shì)近年來(lái)引(yǐn)入(rù)微機後(hòu)，采用磁(cí)性法和渦(wō)法的(dí)測(cè)厚儀(yí)向(xiàng)微型(xíng)，智能(néng)，，度，實(shí)用化的方(fāng)向(xiàng)了步(bù)。測(cè)量(liáng)的分辨率已達0.1微(wēi)米，度可達(dá)到1%，有了(liǎo)大幅(fú)度的提(tí)。它(tā)適(shì)用範圍廣(guǎng)，量程(chéng)寬，操作簡(jiǎn)便(biàn)且(qiě)價(jià)廉(lián)，是(shì)業(yè)和(hé)科(kē)研使用zui廣泛的(dí)測(cè)厚(hòu)儀(yí)器。
采用(yòng)無損方(fāng)法(fǎ)既(jì)不破壞(huài)覆層也(yě)不破壞基材，檢測(cè)速(sù)度(dù)快，能(néng)使大(dà)量的檢(jiǎn)測(cè)作(zuò)經(jīng)濟地行。
當前位置：