數字(zì)集(jí)成電(diàn)路測試(shì)儀(yí),數字IC測(cè)試儀(yí) 型(xíng)號(hào)：HAD-ICT-33C
HAD-ICT-33C數字(zì)集成電(diàn)路(lù)測(cè)試儀,數字IC測試儀(yí)產品(pǐn)點：
◆器(qì)件(jiàn)好壞判別：當不(bù)知被(bèi)測(cè)器(qì)件的(dí)好壞(huài)時，儀(yí)器可判斷其(qí)好(hǎo)壞。
◆器件(jiàn)型號(hào)判(pàn)別：當不知(zhī)被測器(qì)件型(xíng)號時(shí)，儀器可(kě)依據其邏(luó)輯(jí)能(néng)來(lái)判斷(duàn) 其(qí)型號。
◆器(qì)件老化測試：當(dāng)懷(huái)疑(yí)被測器件的穩定(dìng)性(xìng)時，儀器可對(duì)其(qí)行連續老化測試(shì)。
◆器件代換查詢(xún)：儀(yí)器可顯示(shì)有無(wú)邏(luó)輯能(néng)致(zhì)，引腳排(pái)列(liè)致的器(qì)件(jiàn)型號。
◆電壓調節選擇(zé)：3V，5V，9V，15V。
◆內RAM數(shù)據修改：HAD-ICT-33C可從鍵(jiàn)盤對自己(jǐ)內RAM中(zhōng)的(dí)數據行隨機(jī)修(xiū)改。
◆EPROM，EEPROM器件讀(dú)入：HAD-ICT-33C可(kě)將64K以(yǐ)內的(dí)EPROM，EEPROM器(qì)件內的(dí)數據行(háng)讀(dú)入(rù)
並保(bǎo)存。
◆EPROM，EEPROM器(qì)件(jiàn)寫入：HAD-ICT-33C可將內(nèi)RAM中的數據(jù)寫入到64K以內的(dí)EPROM，EEPROM
器(qì)件中,並自動(dòng)校(xiào)驗(yàn)。
◆ 新增RS232接口，與PC通訊(xùn)，互(hù)送(sòng)資料(liào)。
〖TOP〗
規(guī)格：
1，CMOS40係列：103種。
2，CMOSMCI40係列(liè)：103種(zhǒng)。
3，CMOS45係(xì)列：60種(zhǒng)。
4，CMOSMCI45係列：60種。
5，光耦(ǒu)合(hé)器係列：133種(zhǒng)。
6，TTL74/54係(xì)列：714種(zhǒng)。
8，數碼(mǎ)管(guǎn)係(xì)列(liè)：
0.5寸(cùn)共(gòng)陽[001];共陰[002];0.3寸(cùn)共(gòng)陽(yáng)[003];共陰(yīn)[004];0.7寸(cùn)共陽[005];共陰(yīn)[006].
7，TTL75/55係列：82種。
9，常(cháng)用RAM係列：
2112 2114 2016 6116 6264 62256 60256 628128 24C01 24C02 24C04 24C08
24C16 24C32 27C010 29C256 29C010 24C64 93C46 93C56 93C66 28C256
10，EEPROM係(xì)列：
2816 2817 2864 28256 28040 29101
11，EPROM係列(liè)：
2716 2732 2764 27128 27256 27512
12，微(wēi)機外圍電路(lù)係(xì)列：
8155 8156 8255 8253 8259 8212 8282 8283 8216 8816 8243 8226
8205 8286 8287 6820 6821 6880 6888 6887 6889 6810 6520 8254
8251 8708 6840 8718 8728 8279 Z80CTC（802）
13，常用單(dān)片(piàn)機(jī)係列：
8031 8032 8051 8052 8048 8039 8035 8049 8751 8752 89C1051 89C2051
8751H 87C52 89C51 89C
14，其他係列(liè)：
2002 2003 2004 3486 3487 3459 2631 2632 2633 1831 1908
339 192 293 393 555 556 324 22100 2802 2803 2804
9637 9638 7831 7832 8831 88323 446MC1413（2003）
MC1416（2004） MC14160（40160） DG201 MC14161（40161）
MC14162（40162）MC14163 （40163） TIL308 MC14189（75189)
2902（324） 8T26（826) AD506
當前位置：