粉末電阻率測試儀(yí)/半導體粉(fěn)末(mò)電(diàn)阻(zǔ)率測試儀     型號；HHY8-FZ-2010

 HHY8-FZ-2010半(bàn)導(dǎo)體粉(fěn)末電阻率(shuài)測試(shì)儀是本(běn)公(gōng)司(sī)根據能源(yuán)方麵(miàn)，與其(qí)是(shì)鋰電(diàn)池的(dí)研究需求，開(kāi)發(fā)的型(xíng)粉(fěn)末電(diàn)阻(zǔ)率測(cè)試儀(yí)。

本產(chǎn)品(pǐn)參(cān)照(zhào)有關際(jì)標準(zhǔn)，配(pèi)置(zhì)粉末測(cè)試台或四探針測試台(tái)，可以(yǐ)對粉(fěn)末(mò)，片(piàn)狀，塊(kuài)狀半導體材(cái)料(liào)以(yǐ) 及(jí)固態金屬(shǔ)行電阻，電(diàn)阻率，方(fāng)塊電阻等多用途測(cè)量。

測(cè)量範(fàn)圍(wéi)：電(diàn)阻10^-4---10⁶，分(fēn)辨(biàn)率1μΩ. ㎝。

          電(diàn)阻率 10^-4---10⁶，分辨率1μΩ. ㎝。

          薄層電阻  10^-3 ---- 10⁷ Ω/□ ，分(fēn)辨率(shuài)10^-5  Ω/□。

測量(liáng)電壓量(liáng)程：0.2mv\2mv\20mv\200mv\2v，分辨率(shuài)0.1μν，測量度(dù)  ±（0.3%讀數(shù)+2字）。

測(cè)量電(diàn)：0--100mA 連(lián)續(xù)可調(tiáo)。電(diàn)量程 1μΑ，10μΑ，100μΑ，1mΑ，10mΑ，100mΑ。

粉(fěn)末(mò)測量(liáng)：1，試樣粒度--標(biāo)準篩(shāi)網40目以上直至(zhì)納(nà)米(mǐ)材料(liào)。 2，試樣容器---內腔(qiāng)φ16.30±0.1mm或(huò)φ6±0.1mm。 3，試樣度---16mm±0.5mm或(huò)6~20mm±0.1mm。測量誤差±0.1mm。4，取樣(yàng)壓力--4Mpa±0.5Mpa(40kg/cm² ±0.5kg/cm²  )或8Mpa±0.5Mpa(80kg/cm²   ±0.75kg/cm² )，壓(yā)力(lì)量程--0~200kg可調(tiáo)。

固(gù)體(tǐ)薄膜及(jí)半導體測(cè)量(liáng)：四探(tàn)針測試架---1，探針(zhēn)間(jiān)距1mm±0.03mm；2，探針遊移率(shuài)﹤±0.3%；3，可測材(cái)料尺(chǐ)寸(cùn)--直徑φ15~160mm，長度(dù)<400mm。

顯示(shì)方式：3?位數字顯示(shì)電阻(zǔ)，電阻(zǔ)率，壓力(lì)，度。單(dān)位(wèi)，小(xiǎo)數點自(zì)動顯示。

電(diàn)源(yuán)：220±10%  50HZ~60HZ  率消(xiāo)耗<150W。

外(wài)形(xíng)尺(chǐ)寸(cùn)： 440mm×120mm×420mm。