電電(diàn)化學(xué)作站

更新時間(jiān)：2012-11-06 | 點(diǎn)擊率(shuài)：1148

電電(diàn)化學作(zuò)站(zhàn) 型號；HAD-CS1350

CS係(xì)列(liè)電(diàn)化(huà)學作站由速MCU，度(dù)FET集(jí)成電路組成(chéng)，內置(zhì)DDS數(shù)字信(xìn)號合(hé)成器，率恒電(diàn)位(wèi)/恒電儀，雙通(tōng)道(dào)相關分析器和雙通(tōng)道速(sù)16bit /度24bit AD轉(zhuǎn)換器。能(néng)成綫性掃(sǎo)描伏安(ān)（LSV），循環伏安（CV），階梯(tī)波(bō)循環(huán)伏(fú)安（SCV），方(fāng)波循環伏(fú)安(ān)（SWV），差(chà)分脈衝(chōng)伏安（DPV）和常規脈衝(chōng)伏安（NPV）以(yǐ)及差(chà)分常(cháng)規(guī)脈衝伏(fú)安（DNPV）等(děng)電(diàn)分析方(fāng)法(fǎ)；還可以(yǐ)成恒電(diàn)（位）化(huà)，動電位(wèi)（）掃(sǎo)描，意恒(héng)電（位）方(fāng)波，多恒電（位(wèi)）階(jiē)躍(yuè)，零電(diàn)阻電計，電(diàn)化(huà)學噪(zào)聲（電(diàn)偶(ǒu)電），電化(huà)學阻(zǔ)抗（EIS）等(děng)電化學(xué)測(cè)試(shì)等(děng)能，所有測(cè)量能均(jūn)可(kě)定(dìng)時自動行，用(yòng)於無人值(zhí)守(shǒu)下的(dí)自動(dòng)測量。
    CS係列包括多種(zhǒng)型號(hào)，可用於(yú)較大電和(hé)較槽(cáo)壓(yā)的(dí)電化(huà)學(xué)測(cè)量(liáng)和(hé)應用(yòng)，例如電池，電(diàn)分(fēn)析(xī)，腐蝕(shí)，電解，電(diàn)鍍等(děng)。儀器的(dí)電(diàn)輸(shū)出(chū)範(fàn)圍為(wéi)±，槽壓為±21V。電壓控(kòng)製(zhì)範圍(wéi)：±10V；電控製(zhì)範圍：±5.0A；電(diàn)測(cè)量(liáng)下限為10pA。
    CorrTest^TM測(cè)試軟(ruǎn)件是CS電化(huà)學(xué)作(zuò)站(zhàn)的控(kòng)製(zhì)平台(tái)，軟(ruǎn)件基於Windows98/ 2000/XP/Vista/Windows7操作係(xì)統，並遵守(shǒu)Windows軟件規則(zé)，易於(yú)安(ān)裝(zhuāng)和(hé)使用。軟(ruǎn)件(jiàn)包括文件管(guǎn)理，實(shí)驗(yàn)方(fāng)法(fǎ)管(guǎn)理(lǐ)，多(duō)坐(zuò)標圖(tú)形顯示(shì)和縮放(fàng)，數據(jù)/圖形的(dí)存(cún)貯/打印以及交互式幫助(zhù)等。軟件(jiàn)具有良好的用戶界(jiè)麵(miàn)，命(mìng)令(líng)窗(chuāng)口所(suǒ)用的詞匯(huì)與通(tōng)用(yòng)的(dí)電化學術(shù)語保(bǎo)持致，中文菜單(dān)和(hé)界麵，方(fāng)便用(yòng)戶(hù)的教(jiào)學和科(kē)研作(zuò)。
    CorrTest^TM測試軟(ruǎn)件還具有別針(zhēn)對(duì)材料(liào)和腐(fǔ)蝕(shí)電(diàn)化學(xué)的(dí)實驗(yàn)方法，包括(kuò)鈍化曲(qū)綫(xiàn)自(zì)動或人反掃，電(diàn)化學(xué)再活(huó)化法(fǎ)，溶(róng)液電阻（IR降）測量和(hé)補(bǔ)償法(fǎ)。Corrtest^TM分析軟件(jiàn)則(zé)具有(yǒu)善的(dí)數(shù)據分析能(néng)，可(kě)對伏安曲綫行數(shù)字(zì)平滑，積(jī)分，微分(fēn)運算(suàn)，能對化(huà)曲(qū)綫行(háng)電化學參數(shù)解析(xī)，包括化電(diàn)阻R_p，Tafel斜(xié)率b_a，b_c，腐(fǔ)蝕電(diàn)密度(dù)i_corr，腐蝕速率(shuài)計算(suàn)等，還可計算(suàn)噪聲電阻(zǔ)Rn和率(shuài)譜，並可將(jiāng)圖形(xíng)以矢(shǐ)量(liáng)方式拷貝到(dào)Microsoft Word 文(wén)檔中。
    CS係(xì)列電(diàn)化學(xué)作站(zhàn)采用(yòng)USB2.0接口(kǒu)與計算機(jī)通(tōng)訊(xùn)，設備安(ān)裝(zhuāng)簡單(dān)，即插即用(yòng)。
    外(wài)形尺寸(cùn)：36.5cm（寬(kuān)）*30.5cm（深）*16cm（）     儀(yí)器(qì)重(zhòng)量(liáng)：6.5Kg
應用域
   1）研(yán)究電化(huà)學機理(lǐ)；物(wù)質的定性定量分(fēn)析；
    2）常規電化學測(cè)試，包(bāo)括(kuò)電(diàn)合成(chéng)，電(diàn)沉(chén)積(jī)（電鍍(dù)）性能(néng)評價；
    3）能(néng)和(hé)能源(yuán)材料（電(diàn)池(chí)，電容(róng)器，納(nà)米材料(liào)，生物(wù)傳感器等）的機理和(hé)製備研究(jiū)；
    4）緩蝕劑，水質(zhì)穩(wěn)定(dìng)劑，塗(tú)層以及(jí)陰保(bǎo)護(hù)效(xiào)率(shuài)快(kuài)速(sù)評價以(yǐ)及氫滲(shèn)測(cè)試等；
    5）金(jīn)屬材(cái)料(liào)在導(dǎo)電(diàn)性(xìng)介(jiè)質（包(bāo)括水/混凝土/土壤(rǎng)等環(huán)境）中(zhōng)的(dí)腐蝕電化(huà)學測(cè)試(shì)。
儀器配(pèi)置
    1）儀(yí)器主(zhǔ)機1台(tái)                                2） CorrTest測試與(yǔ)分析軟件(jiàn)1套(tào)
    3）用電(diàn)解池(chí)（含鹽橋(qiáo)和排氣管(guǎn)）1套              4）鉑(bó)金電，參比電，作電各(gè)1支
    5）模擬電(diàn)解池(chí)1個                              6）電源綫/USB數據綫各(gè)1條
    7）電電纜綫1根(gēn)                              8）電架(jià) （選(xuǎn)配(pèi)*）
    9）屏蔽(bì)箱（選(xuǎn)配*）
標(biāo)與能(néng)方

                               硬(yìng)件(jiàn)參數標

恒(héng)電(diàn)位電位控製範圍(wéi)：±10V	恒電(diàn)控製(zhì)範圍：±5.0A
電(diàn)位控(kòng)製度(dù)：0.1%×滿量程(chéng)讀(dú)數±1mV	電(diàn)控(kòng)製(zhì)度：0.1%×滿(mǎn)量(liáng)程(chéng)讀(dú)數
電位靈(líng)敏(mǐn)度(dù)：10mV（>100Hz）, 3mV（<10Hz）	電靈(líng)敏(mǐn)度(dù)：<10pA
電位(wèi)上(shàng)升(shēng)時(shí)間：<1mS（<10mA）, <10mS（<2A）,<20mS（>2A）	電(diàn)量程(chéng)：2A～200nA, 共8檔(dàng)
參(cān)比電輸入阻抗：10¹² W\|\|20pF	zui大輸出(chū)電：5.0A
槽壓：±15V	電掃(sǎo)描(miáo)增量(liáng)：1mA @1A/mS
CV 和(hé)LSV掃(sǎo)描速(sù)度(dù)：0.01mV～10000V/s	電(diàn)位掃(sǎo)描時電(diàn)位(wèi)增(zēng)量(liáng)：0.1mV @1V/mS
CA和(hé)CC脈衝寬度：0.0001～65000s	DPV和NPV脈(mài)衝寬度(dù)：0.0001～1000s
SWV頻(pín)率(shuài)：0.001～100KHz	CV的zui小電位(wèi)增量：0.075mV
AD數(shù)據采(cǎi)集：16bit@1MHz，20bit@1kHz，	電(diàn)與(yǔ)電(diàn)位量程：自動設(shè)置
DA分辨率：16bit，建立時間(jiān)：1mS	低(dī)通(tōng)濾波(bō)器(qì) ：8段(duàn)可(kě)編(biān)程(chéng)
接口通(tōng)訊(xùn)模(mó)式：USB2.0

電化學(xué)阻抗測量標

信(xìn)號(hào)發生(shēng)器
頻率響(xiǎng)應(yīng)：10mHz～115KHz（CS1310/CS1350） 10mHz～1MHz（CS1360）	交信(xìn)號(hào)幅值：0mV～2500mV
直偏壓(yā)：-10～+10V	DDS輸出(chū)阻抗：50W
波(bō)形(xíng)：正弦波(bō)，三角波，方(fāng)波(bō)	正弦波失真：<1%
掃描(miáo)方(fāng)式(shì)：對數(shù)/綫性，增加/下(xià)降	zui大負(fù)載(zǎi)電容：1nF；zui大(dà)負(fù)載電感：10mH
信號分(fēn)析器
積分時(shí)間(jiān)：zui大值(zhí)：10⁶個循(xún)環或(huò)者10⁵S	測(cè)量(liáng)時間(jiān)延(yán)遲：0～10⁵秒
zui小值：10mS 或(huò)者個循(xún)環的zui長(cháng)時間(jiān)
直偏置補償(cháng)
電(diàn)位自(zì)動補(bǔ)償範圍：-10V～+10V	電補償(cháng)範圍：-1A～+1A
帶寬調整：自動(dòng)或(huò)手動設(shè)置, 共8可調

CS係(xì)列儀(yí)器不(bù)同型號能(néng)

能方法(fǎ)		CS1120	CS1150	CS1300	CS1310	CS1350	CS1360
穩態化(huà)	開(kāi)路電位(wèi)測(cè)量(liáng)（OCP）	•	•	•	•	•	•
	恒(héng)電位(wèi)化	•	•	•	•	•	•
	恒電化(huà)		•	•	•	•	•
	動電(diàn)位掃描（DPP）	•	•	•	•	•	•
	動(dòng)電(diàn)掃(sǎo)描(miáo)（DGP）		•	•	•	•	•
暫(zàn) 態(tài) 化	意恒電(diàn)位方波(bō)	•	•	•	•	•	•
	意(yì)恒電方波(bō)		•	•	•	•	•
	多(duō)電位(wèi)階(jiē)躍（VSTEP）	•	•	•	•	•	•
	多電階(jiē)躍（ISTEP）		•	•	•	•	•
	快速電(diàn)位脈衝(chōng)						•
	快(kuài)速(sù)電脈衝(chōng)						•
計(jì) 時分(fēn) 析(xī)	計時電(diàn)位(wèi)法（CP）			•	•	•	•
	計(jì)時電法（CA）			•	•	•	•
	計時電(diàn)量(liáng)法(fǎ)（CC）			•	•	•	•
伏(fú) 安分(fēn) 析	綫性掃描伏(fú)安法（LSV）	•	•	•	•	•	•
	循環(huán)伏安(ān)法(fǎ)（CV）	•	•	•	•	•	•
	階(jiē)梯(tī)伏安法(fǎ)（SCV）			•		•	•
	差分(fēn)脈(mài)衝(chōng)伏安(ān)法（DPV）			•		•	•
	常規(guī)脈(mài)衝(chōng)伏安法（NPV）			•		•	•
	方波(bō)伏安(ān)法（SWV）			•		•	•
	交伏安(ān)法(fǎ)（ACV）			•		•	•
	常(cháng)規(guī)差(chà)分脈衝(chōng)伏安(ān)法（DNPV）			•		•	•
	二(èr)次諧(xié)波(bō)交(jiāo)伏(fú)安(ān) （SHACV）			•		•	•
溶(róng) 出(chū) 伏安	恒(héng)電位(wèi)溶(róng)出(chū)伏安(ān)			•		•	•
	綫性溶(róng)出伏安			•		•	•
	階梯溶出(chū)伏(fú)安			•		•	•
	方(fāng)波溶出伏安			•		•	•
	交(jiāo)溶出伏安			•		•	•
交阻(zǔ) 抗(kàng)	電化(huà)學阻抗（EIS）～頻率(shuài)掃描				•	•	•
	電化(huà)學阻(zǔ)抗（EIS）～時間(jiān)掃描(miáo)				•	•	•
	電(diàn)化(huà)學阻抗(kàng)（EIS）～電(diàn)位(wèi)掃描				•	•	•
腐蝕測(cè) 量(liáng)	循環化(huà)曲(qū)綫（CPP）	•	•	•	•	•	•
	綫(xiàn)性(xìng)化曲綫（LPR）	•	•	•	•	•	•
	電(diàn)化學(xué)噪(zào)聲（EN）	•	•	•	•	•	•
	電偶(ǒu)腐蝕(shí)測(cè)量（ZRA）	•	•	•	•	•	•
	氫擴(kuò)散測試（HDT）		•	•	•	•	•
電(diàn) 池測試	電(diàn)池充(chōng)放(fàng)電測試		•	•	•	•	•
	恒電(diàn)充放(fàng)電		•	•	•	•	•
	恒電(diàn)間歇充(chōng)放(fàng)電		•	•	•	•	•
擴展測(cè) 量(liáng)	盤(pán)環(huán)電測試(shì)			•	•	•	•
	數字記錄儀	•	•	•	•	•	•
	波形發(fā)生(shēng)器			•	•	•	•
	圓(yuán)盤電(diàn)機(jī)控製(zhì)			•	•	•	•

注：* 氫滲(shèn)透(tòu)測(cè)試中(zhōng)主動式充(chōng)氫需要(yào)另(lìng)行配置CS1001A恒(héng)源使用(yòng)或采用CS2350雙恒電位儀。

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