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當(dāng)前位置(zhì):首(shǒu)頁  >  技術文章  >  電(diàn)電化學作站(zhàn)是中文(wén)菜單(dān)和(hé)界(jiè)麵(miàn),方便(biàn)用戶(hù)的教(jiào)學和(hé)科(kē)研(yán)作

電(diàn)電(diàn)化(huà)學作(zuò)站(zhàn)是(shì)中(zhōng)文菜單和界(jiè)麵(miàn),方(fāng)便用戶(hù)的教學(xué)和(hé)科(kē)研(yán)作(zuò)

更(gēng)新時(shí)間(jiān):2018-07-03  |  點擊(jī)率:1201

 電(diàn)化學作(zuò)站由(yóu)速(sù)MCU,度FET集成(chéng)電路(lù)組成,內置(zhì)DDS數字信(xìn)號合成器,率(shuài)恒(héng)電位(wèi)/恒(héng)電儀(yí),雙通道相(xiāng)關分析器(qì)和雙通(tōng)道速(sù)16bit /度(dù)24bit AD轉(zhuǎn)換器(qì)。能(néng)成(chéng)綫(xiàn)性(xìng)掃(sǎo)描(miáo)伏安(ān)(LSV),循(xún)環伏安(CV),階梯波循環伏(fú)安(SCV),方波循(xún)環(huán)伏(fú)安(SWV),差分(fēn)脈衝(chōng)伏(fú)安(ān)(DPV)和(hé)常(cháng)規(guī)脈衝(chōng)伏安(NPV)以及(jí)差(chà)分(fēn)常規(guī)脈(mài)衝(chōng)伏(fú)安(DNPV)等(děng)電(diàn)分析方(fāng)法;還(huán)可(kě)以(yǐ)成(chéng)恒(héng)電(位)化,動(dòng)電位(wèi)()掃描,意恒(héng)電(diàn)(位)方波,多(duō)恒電(diàn)(位(wèi))階(jiē)躍(yuè),零電阻(zǔ)電(diàn)計(jì),電(diàn)化(huà)學(xué)噪聲(電(diàn)偶(ǒu)電(diàn)),電化(huà)學阻(zǔ)抗(EIS)等電(diàn)化學測(cè)試等能,所有測量能均可(kě)定時自動行,用於無人值守下(xià)的(dí)自(zì)動(dòng)測(cè)量。
    CS係列(liè)包括多(duō)種型(xíng)號,可用於較大電和(hé)較槽(cáo)壓的電化(huà)學測(cè)量和應(yīng)用,例如電池(chí),電(diàn)分析,腐蝕,電(diàn)解(jiě),電鍍等。儀(yí)器(qì)的電輸(shū)出範圍為±,槽(cáo)壓為±21V。電(diàn)壓控製(zhì)範圍:±10V;電(diàn)控製範圍:±5.0A;電測(cè)量下限(xiàn)為(wéi)10pA。
    CorrTestTM 測試軟件是(shì)CS電(diàn)化學(xué)作(zuò)站(zhàn)的控(kòng)製平台,軟(ruǎn)件基(jī)於Windows98/ 2000/XP/Vista/Windows7操作係統(tǒng),並(bìng)遵守(shǒu)Windows軟(ruǎn)件規(guī)則,易於安裝和(hé)使(shǐ)用。軟件包(bāo)括(kuò)文(wén)件(jiàn)管(guǎn)理(lǐ),實(shí)驗方法(fǎ)管(guǎn)理(lǐ),多坐標圖形(xíng)顯(xiǎn)示和(hé)縮(suō)放,數據(jù)/圖(tú)形的存貯/打(dǎ)印以(yǐ)及(jí)交互式(shì)幫(bāng)助(zhù)等。軟件(jiàn)具有良(liáng)好(hǎo)的用(yòng)戶界麵,命令(líng)窗口(kǒu)所用(yòng)的詞匯(huì)與通(tōng)用(yòng)的電(diàn)化學術語(yǔ)保(bǎo)持致(zhì),中文菜單(dān)和界(jiè)麵,方(fāng)便(biàn)用戶(hù)的教(jiào)學和(hé)科研作。
    CorrTestTM 測(cè)試軟件(jiàn)還(huán)具有別(bié)針(zhēn)對材(cái)料(liào)和腐蝕電化學(xué)的實(shí)驗方法,包(bāo)括鈍(dùn)化(huà)曲綫自動或人反掃,電化學(xué)再活化(huà)法(fǎ),溶液電阻(zǔ)(IR降(jiàng))測(cè)量和(hé)補償(cháng)法。CorrtestTM 分(fēn)析軟(ruǎn)件則具有善(shàn)的(dí)數據分(fēn)析(xī)能(néng),可(kě)對(duì)伏安(ān)曲綫行數(shù)字平(píng)滑(huá),積(jī)分,微(wēi)分運算,能對(duì)化(huà)曲(qū)綫(xiàn)行(háng)電化(huà)學(xué)參數(shù)解析(xī),包(bāo)括化電(diàn)阻(zǔ)Rp,Tafel斜(xié)率ba,bc,腐(fǔ)蝕電(diàn)密度(dù)icorr,腐蝕速率(shuài)計算(suàn)等,還可(kě)計算(suàn)噪(zào)聲電阻Rn和率譜(pǔ),並(bìng)可將(jiāng)圖形以矢量方式拷貝到Microsoft Word 文(wén)檔中。
    CS係(xì)列電化學作站采(cǎi)用USB2.0接口與計算機通(tōng)訊,設(shè)備(bèi)安裝(zhuāng)簡(jiǎn)單(dān),即插(chā)即(jí)用。
    外(wài)形尺寸:36.5cm(寬)*30.5cm(深(shēn))*16cm()     儀(yí)器重(zhòng)量:6.5Kg
應用域
    1) 研究(jiū)電(diàn)化(huà)學機(jī)理(lǐ);物質(zhì)的定性(xìng)定量分析(xī);  
    2) 常規電(diàn)化(huà)學測試,包括電合(hé)成(chéng),電(diàn)沉積(電(diàn)鍍(dù))性(xìng)能評(píng)價;
    3) 能和能源(yuán)材(cái)料(liào)(電(diàn)池,電容器,納米材料,生(shēng)物(wù)傳(chuán)感器等)的機理(lǐ)和(hé)製(zhì)備(bèi)研究(jiū);
    4) 緩(huǎn)蝕(shí)劑,水(shuǐ)質穩(wěn)定劑,塗層以及陰保(bǎo)護效率快速(sù)評價以(yǐ)及(jí)氫(qīng)滲測試等;
    5) 金屬材(cái)料(liào)在導(dǎo)電(diàn)性(xìng)介質(zhì)(包(bāo)括水/混(hùn)凝土/土壤等環(huán)境(jìng))中的腐蝕(shí)電(diàn)化(huà)學測(cè)試。