少子壽命測試(shì)儀(yí)是款矽(guī)片少子壽命(mìng)測試(shì)儀(yí)，不(bù)僅適用於(yú)矽片少(shǎo)子壽(shòu)命的(dí)測量(liáng)，更適用於(yú)矽棒，矽(guī)芯，檢磷棒，檢(jiǎn)硼棒，籽(zǐ)晶等(děng)多種(zhǒng)不規(guī)則形狀矽(guī)少子壽命(mìng)的(dí)測(cè)量。
　　少(shǎo)子(zǐ)壽命測(cè)試儀使(shǐ)用(yòng)前的(dí)檢(jiǎn)查(chá)
　　開機1，檢(jiǎn)測(cè)所有(yǒu)電(diàn)源(yuán)連(lián)接(jiē)無(wú)誤後，按Power鍵依次(cì)打開DOS係(xì)統(tǒng)（上(shàng)麵(miàn)）和(hé)Window係統（下麵）的(dí)控(kòng)機(jī)。
　　2，預熱（10分(fēn)鐘以(yǐ)上(shàng)）
　　3，檢測前準備(bèi)(1)雙擊wintau32圖(tú)標入(rù)軟(ruǎn)件(jiàn)；；(2)每(měi)次(cì)開機(jī)後Measure/Initialize行初始(shǐ)化(huà)。
　　少(shǎo)子(zǐ)壽(shòu)命(mìng)測試(shì)儀(yí)使用步驟
　　（1）接上電(diàn)源綫以及用(yòng)頻(pín)連(lián)接綫將(jiāng)CZ與(yǔ)示波(bō)器Y輸(shū)入端接通，開(kāi)啟(qǐ)示波器。
　　（2）將(jiāng)清潔處(chǔ)理(lǐ)後(hòu)的樣品置於電(diàn)上麵，為(wéi)提靈(líng)敏(mǐn)度，請在(zài)電(diàn)上塗(tú)抹(mǒ)點自來水(shuǐ)（注意(yì)：塗水(shuǐ)不可過多，以免(miǎn)水(shuǐ)入光照孔）注意(yì)：塗水不(bù)可過多(duō)，以(yǐ)免(miǎn)水入光照孔(kǒng)。
　　（3）開(kāi)啟總電源KD，預熱15分(fēn)鐘，按下K接通(tōng)脈衝電路電(diàn)源，旋轉KW，適當(dāng)調(tiáo)電壓。關機時，要把開(kāi)關K按(àn)起關(guān)機時，按(àn)起。
　　（4）調(tiáo)整(zhěng)示波(bō)器(qì)電(diàn)平(píng)及(jí)釋抑(yì)時間，內(nèi)同步(bù)，Y軸(zhóu)衰(shuāi)減X軸掃描速(sù)度(dù)及曲(qū)綫的上(shàng)下左右位置，使(shǐ)儀器輸(shū)出的數(shù)衰(shuāi)減(jiǎn)光(guāng)電導(dǎo)信(xìn)號(hào)波形穩(wěn)定下來。
　　少(shǎo)子(zǐ)壽(shòu)命(mìng)測試儀少(shǎo)子(zǐ)測量(liáng)程(chéng)從(cóng)1μs到6000μs，矽料電阻率(shuài)下(xià)限(xiàn)達0.1Ω.cm(可(kě)擴展(zhǎn)至0.01Ω.cm)。測試過(guò)程程動態(tài)曲(qū)綫監控，少子壽命測量(liáng)可靈(líng)敏地反(fǎn)映單(dān)晶體重(zhòng)金屬汙染及陷阱效(xiào)應表麵(miàn)復合效應(yīng)等(děng)缺陷情況，是原(yuán)生(shēng)多晶矽(guī)料(liào)及半(bàn)導體及太(tài)陽能(néng)拉(lā)晶企業少(shǎo)子壽命測(cè)量(liáng)儀器。