隨著電(diàn)子(zǐ)的(dí)發(fā)展,對半(bàn)導(dǎo)體材料各種性能參(cān)數(shù)的(dí)要(yào)求(qiú)越來越,其(qí)中(zhōng),電阻率是半導體(tǐ)材料(liào)的主(zhǔ)要性能參(cān)數(shù)之。目前,四探針(zhēn)測(cè)試儀(yí)是(shì)測(cè)量半(bàn)導體材(cái)料(liào)電(diàn)阻(zǔ)率的種重要儀器

    數(shù)字式(shì)四探(tàn)針測試儀(yí)是(shì)運(yùn)用四(sì)探針測(cè)量原(yuán)理的多用(yòng)途綜(zōng)合(hé)測量設備，儀器(qì)采用了(liǎo)電(diàn)子(zǐ)行，裝配(pèi)。具(jù)有能(néng)選(xuǎn)擇(zé)直(zhí)觀，測量取數(shù)快，度，測(cè)量範圍寬，穩(wěn)定(dìng)性(xìng)好，結(jié)構(gòu)緊湊(còu)，易操作等點(diǎn)。適用於(yú)半導(dǎo)體(tǐ)材(cái)料(liào)廠，半導體(tǐ)器(qì)件(jiàn)廠，科研單(dān)位，等院(yuàn)校對(duì)半導體材(cái)料的(dí)電(diàn)阻(zǔ)性能測試。

   四(sì)探針軟(ruǎn)件測試係(xì)統(tǒng)是個運(yùn)行在計(jì)算(suàn)機上擁(yōng)有友(yǒu)好測(cè)試界(jiè)麵的(dí)用戶程(chéng)序，通(tōng)過此測試程(chéng)序輔(fǔ)助使(shǐ)用(yòng)戶簡(jiǎn)便地(dì)行各項(xiàng)測(cè)試(shì)及(jí)獲得測試(shì)數(shù)據(jù)並(bìng)對(duì)測(cè)試數據行(háng)統計(jì)分析(xī)。

測試(shì)程序控製(zhì)四探(tàn)針(zhēn)測(cè)試儀行(háng)測量並采集測(cè)試(shì)數據，把(bǎ)采(cǎi)集到的數據在(zài)計算機中加(jiā)以分析，然(rán)後(hòu)把測(cè)試(shì)數據(jù)以(yǐ)表格，圖(tú)形直觀(guān)地記(jì)錄，顯(xiǎn)示出來。用戶(hù)可(kě)對(duì)采(cǎi)集(jí)到(dào)的(dí)數據在電腦(nǎo)中保(bǎo)存或(huò)者打(dǎ)印(yìn)以(yǐ)備日後參考(kǎo)和查(chá)看(kàn)，還(huán)可(kě)以把(bǎ)采集(jí)到的數(shù)據輸出(chū)到(dào)Excel中(zhōng)，讓用戶對數(shù)據行各(gè)種數據分析