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導(dǎo)電(diàn)型(xíng)號(hào)測(cè)試儀/PN測試儀/矽料PN鑒別儀(yí) 型號:KDK-STY-1
| 產(chǎn)品簡(jiǎn)介 |
| KDK-STY-1型導(dǎo)電(diàn)型號測(cè)試(shì)儀是(shì)嚴格(gé)按(àn)照ASTM F42(非本(běn)征(zhēng)半(bàn)導體(tǐ)材料導電類型的(dí)標準測試方(fāng)法)中的熱(rè)探(tàn)針法(fǎ)的導(dǎo)電類(lèi)型鑒(jiàn)別儀。 本(běn)儀(yí)器熱探(tàn)筆(bǐ)內(nèi)裝有加熱和控溫(wēn)組件,自動加(jiā)熱(rè)並(bìng)使(shǐ)溫度維持在(zài)40-60℃範圍(wéi)內,冷(lěng)熱探筆(bǐ)在(zài)半導(dǎo)體(tǐ)材(cái)料上產生(shēng)的(dí)熱電(diàn)動(dòng)勢(shì),經(jīng)低(dī)噪聲,低(dī)漂移的集(jí)成(chéng)運算放大(dà)器放(fàng)大後,用寬(kuān)表麵檢計示(shì)型(xíng)號方向,並(bìng)可(kě)定(dìng)量(liáng)測出(chū)熱電的(dí)數值(zhí)大(dà)小(xiǎo)。儀器靈(líng)敏(mǐn)度可調,可(kě)在(zài)廣(guǎng)泛的電(diàn)阻率(從(cóng)1000Ω·cm阻單晶到(dào)10-4Ω·cm重(zhòng)摻(chān)單晶(jīng))範圍內(nèi)判別(bié)半導體材料型(xíng)號(hào)。 二(èr),性(xìng)能(néng) 1,可(kě)判別鍺(zhě),矽材料的(dí)電阻率(shuài)範圍(wéi): 鍺:非本征(zhēng)鍺~10-4Ω·cm 矽(guī):104~10-4Ω·cm 實驗證(zhèng)明(míng):在(zài)室溫情況(kuàng)下,對於電阻(zǔ)率(shuài)低於1000Ω·cm的N型和P型(xíng)矽,本方(fāng)法結果(guǒ)可靠(kào)。 2,熱電測(cè)量(liáng)範(fàn)圍:0~±1μA 分六個(gè)量(liáng)程: ±3nA,±10nA,±30nA,±100nA,±300nA,±1μA zui大偏(piān)轉(zhuǎn)靈(líng)敏度(dù):1×10-11A/格(gé) 3,鍺(zhě),矽單晶直徑及(jí)長(cháng)度(dù):不受限製。 4,顯示方式(shì):中心(xīn)刻度(dù)為零(líng)位的(dí)寬(kuān)表(biǎo)麵(miàn)針(zhēn)示器,針向正(zhèng)方(fāng)向(xiàng)偏轉被測樣品為P型,針向(xiàng)負方向(xiàng)偏轉被(bèi)測樣(yàng)品(pǐn)為N型。 5,探(tàn)針:選用(yòng)ASTM F42標準中建議的(dí)不鏽(xiù)鋼(gāng)作(zuò)探(tàn)針材料,針尖為60°錐體,熱筆(bǐ)溫(wēn)度(dù)自(zì)動保持在40-60℃範圍內。冷筆與(yǔ)室溫相(xiāng)同(tóng)。 6,電(diàn)源及耗:AC 220V±10%,50HZ交供(gōng)電,耗電小於10W。 7,外型(xíng)尺寸(cùn):170×160×230(mm) 8,重量:約2.5kg |
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北京恒(héng)奧(ào)德(dé)儀(yí)器(qì)儀表(biǎo)有限(xiàn)公(gōng)司
:鵬(péng)
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地(dì)址(zhǐ):北(běi)京(jīng)市海(hǎi)澱(diàn)區阜(fù)成路42號院(yuàn)6號(hào)C-211