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導電型號(hào)測(cè)試儀 導(dǎo)電(diàn)型號檢測儀 型號:KDK-STY-3
KDK-STY—3型導電(diàn)型號測試(shì)儀是(shì)嚴格按(àn)照標(biāo)GB/T1550-1997和ASTM F42(非(fēi)本征半導體(tǐ)村料導電類型的(dí)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法)中的熱探(tàn)針及整(zhěng)導電類型(xíng)測試方(fāng)法的導電(diàn)類(lèi)型鑒別(bié)儀。
本(běn)儀器熱(rè)探筆內裝有加熱和(hé)控溫組(zǔ)件(jiàn),自動加熱並使溫(wēn)度維(wéi)持在50?60℃範圍內(nèi),冷熱(rè)探(tàn)筆在半導體(tǐ)材料上(shàng)產生(shēng)的熱電動勢及整法(fǎ)產生的電(diàn)勢(shì)差(chà)經(jīng)低(dī)噪聲,低漂移的(dí)集成運算(suàn)放(fàng)大(dà)器放(fàng)大後,用(yòng)液(yè)晶(jīng)顯(xiǎn)示(shì)器(qì)件(LCD)及檢(jiǎn)計示型號方向。儀(yí)器靈敏度(dù)分,低兩(liǎng)檔,可(kě)判別大(dà)分非(fēi)本征半(bàn)導(dǎo)體材料型(xíng)號(hào)(從(cóng)阻單晶到(dào)重摻單晶(jīng))。
二(èr),性能
1,可判(pàn)別鍺(zhě),矽著料的電(diàn)阻率範(fàn)圍(wéi):
鍺(zhě):非本征鍺103~10?4Ω·cm
矽(guī):10+4~10-4Ω·cm
經(jīng)內外(wài)實驗證(zhèng)明:在室(shì)溫(wēn)情況下,熱電(diàn)法對於電(diàn)阻(zǔ)率低於1000Ω·cm的矽單晶整法結果(guǒ)可靠(kào)。
2,鍺(zhě),矽(guī)單(dān)晶(jīng)直(zhí)徑(jìng)及長度:不(bù)受限(xiàn)製(zhì)
3,顯示方式:由(yóu)顯(xiǎn)示N和P的(dí)液晶(jīng)器件(jiàn)直(zhí)接示(shì),同(tóng)時中心刻度(dù)為零(líng)位(wèi)檢(jiǎn)計也在示(shì)型號,針向左(zuǒ)偏轉(zhuǎn)被測樣品(pǐn)為(wéi)N型,針向(xiàng)右偏(piān)轉被測(cè)樣品(pǐn)為P型。
5,探(tàn)針:用(yòng)ASTM F42標準中(zhōng)建(jiàn)議的不鏽(xiù)鋼作冷(lěng)熱探針(zhēn)材料,針(zhēn)尖為60℃錐體(tǐ),熱(rè)筆(bǐ)溫度(dù)自動保持在50?60℃範圍內(nèi),冷(lěng)筆與室(shì)溫相同(tóng)。整法行(háng)選用硬(yìng)質合金(jīn)作探(tàn)針。
6,電源及(jí)耗:AC 220V±10%,50HZ交(jiāo)供電,zui大(dà)耗(熱筆(bǐ)加熱狀態)小於40W,平(píng)均(jūn)耗(hào)≈10W。
7,外型尺寸:370×320×110(mm)
8,重(zhòng)量:約(yuē) 4 kg